Gebraucht PLASMOS SD 4000 #293815186 zu verkaufen

PLASMOS SD 4000 Ellipsometer ist ein vielseitiges hochpräzises Instrument zur Messung der optischen und physikalischen Eigenschaften von dünnen Filmen. Das Gerät ist in der Lage, genaue und reproduzierbare Messungen des Brechungsindex, des Extinktionskoeffizienten, der optischen Dicke und der chemischen Zusammensetzung von dünnen Filmen bereitzustellen. Als solches ist es ein unschätzbares Werkzeug zur Charakterisierung von Materialien in Halbleiter-, Dünnschicht- und biomedizinischen Anwendungen. SD 4000 verwendet die Kombination aus spektroskopischer Ellipsometrie und spektroskopischer Ellipsometrie mit variablem Winkel (VASE), die die Erfassung spektraler, winkelabhängiger ellipsometrischer Daten ermöglicht. Zunächst wird ein einfallender Lichtstrahl polarisiert und auf die Probenoberfläche gerichtet. Die Probe ändert dann den Polarisationszustand des reflektierten Lichtstrahls entsprechend seiner physikalischen und optischen Eigenschaften. Die detektierte Lichtleistung wird analysiert, um die erforderlichen Informationen über das Probenmaterial zu ermitteln. Das Gerät umfasst einen von Axcelis gelieferten Optistar™-Scanning-Monochromator mit einem Si-Photodiodendetektor und einem ADwin-Controller, der eine Datenerfassung sowohl im UV-VIS- als auch im NIR-Bereich ermöglicht. Monochromator und Detektor werden zeitlich zu simultanen spektralen und winkelförmigen Scans für eine schnelle und effiziente Datenerfassung synchronisiert. Die Vielfalt der Substratmaterialien und die Umgebungsbedingungen von Interesse können über die einstellbaren Messparameter von PLASMOS SD 4000 simuliert werden. Es umfasst einen Bereich von Einfallswinkeln (66 °, 70 °, 74 ° und 78 °) und mehrere Polarisationen des einfallenden Lichtstrahls (s, p und gemischt). Diese Merkmale ermöglichen es dem Instrument, dünne Filme zu messen, die nicht durch die klassische Ellipsometrie nachgewiesen sind. PLASMOS SD 400 bietet auch zusätzliche Funktionen, die in bestimmten Anwendungen von Nutzen sein können. Seine Temperaturregeleinheit ermöglicht die Erfassung temperaturabhängiger Ergebnisse. Darüber hinaus ist das Instrument mit mehreren Objektivlinsen kompatibel, um Anwendern eine Vielzahl von Messfunktionen zu bieten, einschließlich der Analyse stark gekrümmter Oberflächen. Insgesamt ist SD 4000 ein voll ausgestattetes, einfach zu bedienendes Ellipsometer, das genaue und reproduzierbare Messungen des Brechungsindex, des Extinktionskoeffizienten, der optischen Dicke und der chemischen Zusammensetzung von dünnen Filmen ermöglicht. Es bietet Vielseitigkeit und Flexibilität unter Einbeziehung fortschrittlicher Technologien und Funktionen und ist damit das ideale Werkzeug für eine Vielzahl von Anwendungen zur Charakterisierung von Materialien.