Gebraucht RUDOLPH AUTO EL II #293630320 zu verkaufen

RUDOLPH AUTO EL II ist ein hochpräzises, digitales Ellipsometer zur Messung von Dünnschichteigenschaften wie Dicke, optische Anisotropie, Brechungsindex und Extinktionskoeffizient sowie Abscheiderate. Es ist eine zerstörungsfreie, berührungslose Oberflächenanalysetechnik, die häufig in der Forschung und Entwicklung von Halbleitermaterialien, optischen Beschichtungen und Dünnschichtstapeln verwendet wird. AUTO EL II ist ein in sich geschlossenes System, das ein computergesteuertes optisches Modul, eine Probenmanipulationsstufe, einen Monochromator, einen softwaregesteuerten mechanischen Arm und ein Spektrometer umfasst. Mit dem leichten und kompakten Optikmodul hat RUDOLPH AUTO EL II die Fähigkeit, ultradünne Filmstrukturen bis zu einer Dicke von 2 nm zu erkennen. Die Probenmanipulationsstufe ist in der Lage, Proben mit einer Vielzahl von Größen, einschließlich großflächiger (300mm) Substrate, automatisch zu scannen, so dass Messungen über mehrere Probenbereiche möglich sind. Der Monochromator ist mit monochromatischen Filtern ausgestattet, die eine Messung bei Wellenlängen von 190nm bis 1000nm ermöglichen. Der softwaregesteuerte mechanische Arm sorgt für die korrekte Positionierung des Optikmoduls relativ zur Probe, während das Spektrometer zur Messung der von der Oberfläche reflektierten Energie verwendet wird. AUTO EL II ist einfach zu bedienen und die intuitive softwaregesteuerte Benutzeroberfläche hilft bei der Optimierung der Probenmessung. Parameter wie Wellenlänge und Orientierung können für jede Probe programmiert und feinjustiert werden. Darüber hinaus ermöglicht die Software es Benutzern, Testergebnisse zu speichern, Analyseparameter anzupassen, benutzerdefinierte Messsequenzen zu erstellen und automatisierte Skriptsprache zu verwenden, um das Experiment zu steuern. RUDOLPH AUTO EL II ist ein leistungsstarkes, vielseitiges Werkzeug zur Dünnschichtanalyse. Mit seiner hochpräzisen Optik, dem softwaregesteuerten Betrieb und der Fähigkeit, dünne Schichten bis zu 2nm Dicke zu messen, ist dieses fortschrittliche Ellipsometer eine ideale Wahl für Forscher und Ingenieure, die auf dem Gebiet der Dünnschichten und Halbleiter arbeiten.