Gebraucht RUDOLPH AUTO EL III #293638655 zu verkaufen

RUDOLPH AUTO EL III ist ein hochpräzises Ellipsometer zur Messung dünner Filme. Es besteht aus drei Hauptkomponenten: einem Laserinterferometer, einer Strahlungsquelle und einer Detektorausrüstung. Das Interferometer erzeugt mit einem Laser einen Strahl, der durch eine Halbwellenplatte geleitet wird, die um einen Winkel θ gedreht wird. Der Strahl wird dann in zwei Strahlen aufgeteilt, die jeweils von zwei Flächen der Probe getrennt reflektiert werden. Durch Drehen der Halbwellenplatte um bestimmte Winkel treten die reflektierten Strahlen in verschiedenen Richtungen aus der Probe aus. Die Strahlungsquelle ist für die Bereitstellung einer bestimmten Wellenlänge des Lichts zur Interpretation verantwortlich. Das Detektorsystem verwendet eine Kombination von Photomultiplizierern und Filtern, um die Intensitätsänderungen der beiden reflektierten Strahlen zu erfassen. RUDOLPH AUTOEL III ist ein hochentwickeltes Werkzeug zur Messung dünner Filme. Es ist für höchste Präzision und Genauigkeit ausgelegt, mit einer Auflösung von 1 µm für jede Messung. Sie ist in der Lage, verschiedene optische Eigenschaften wie Dicke, Brechungsindex, Extinktionskoeffizient und Absorptionskoeffizient des Dünnfilms zu messen. Dies ermöglicht schnelle, genaue Messungen der Filmeigenschaften, ohne dass eine aufwendige spektroskopische oder chemische Analyse erforderlich ist. Die Steuerung erfolgt über eine sehr benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche (GUI). AUTO EL III kann zur Analyse von Beschichtungen, Dünnschichten und selbstmontierten Monoschichten sowie Halbleitersubstraten verwendet werden. Es ist ideal für die Erforschung der Charakterisierung und Entwicklung von dünnen Filmen. Es kann auch verwendet werden, um Wachstumsparameter von dünnen Schichten zu analysieren, dünne und ultrathine Schichten zu messen und Reflexions- und Absorptionsdaten von Mehrschichtstrukturen zu erhalten. Zusammenfassend ist AUTOEL III ein hochpräzises Ellipsometer für die Messung dünner Filme. Es verfügt über ein Interferometer, eine Strahlungsquelle und eine Detektormaschine und ist in der Lage, dünne Filme hinsichtlich ihrer optischen Eigenschaften genau zu messen. Dieses vielseitige Instrument eignet sich gut zur Charakterisierung und Entwicklung für dünne Filme und kann für verschiedene Forschungszwecke eingesetzt werden.