Gebraucht RUDOLPH AUTO EL III #9205167 zu verkaufen
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RUDOLPH AUTO EL III ist ein automatisiertes Ellipsometer, das eine umfassende und genaue Methodik zur Messung der optischen Eigenschaften von Dünnschichtfolien und Mehrschichtbeschichtungen bietet. Die Ausrüstung wurde entwickelt, um genaue und zuverlässige Ergebnisse für eine breite Palette von Materialien zu liefern, einschließlich Metalle, Halbleiter, Polymere und organische. Das System verwendet eine CCD-Kamera in Kombination mit einem Mikroskop, das mit einem Computer verbunden ist, um die Veränderung des reflektierten Lichts zu messen und verschiedene Schichten eines Materials zu durchlaufen. Sowohl die Einfallswinkel als auch die Polarisation des Lichts können von der Einheit genau eingestellt und überwacht werden. RUDOLPH AUTOEL III bietet ein breites Spektrum an Möglichkeiten und kann für eine Vielzahl von Anwendungen verwendet werden. Dazu gehören Messungen im Zusammenhang mit Beschichtungsabscheidung, Schichtqualität und Schichtdicke. Die Maschine kann auch zur Bestimmung der optischen Konstanten (Brechungsindex und Extinktionskoeffizient) des Materials verwendet werden. Es kann verwendet werden, um Farbstofflösungs- oder Filterstapelschichten mit Schichtdicken von weniger als 200 A ° zu analysieren. Das Werkzeug ist so konzipiert, dass es extrem einfach und vielseitig ist, sodass Benutzer die Filmeigenschaften jeder Schnittstelle, die analysiert werden muss, schnell und genau messen können. Die Anlage besteht aus einem Hauptcontroller, einem optischen Kopf, einer CCD-Kamera, einem Spektro-Ellipsometer und einem Mikroskop. Der Hauptcontroller ermöglicht es Benutzern, die besten Parameter für ihre Anwendungen auszuwählen, wie den Wellenlängenbereich, den Winkelbereich, die Schrittgröße, Rauschreduzierfilter und den Messbereich. Es ermöglicht es Benutzern auch, die Lichtquellen, Software und die Bewegung des optischen Kopfes des Ellipsometers zu steuern. Der optische Kopf, die CCD-Kamera und das Mikroskop ermöglichen es Benutzern, die optischen Eigenschaften der Schnittstelle genau zu messen. Der Wellenlängenbereich von AUTO EL III ist einstellbar, d.h. Benutzer können optische Eigenschaften über einen weiten Wellenlängenbereich messen. Auch der Winkelbereich des Ellipsometers ist von 0-90 ° einstellbar, so dass Proben in jedem beliebigen Winkel gemessen werden können. Das Spektro-Ellipsometer misst das durch die Probe hindurchtretende polarisierte Licht und die reflektierte Lichtmenge. Die Ellipsometerparameter werden per Software berechnet und die Signale in Form von Analysediagrammen dargestellt. Die Daten werden dann unter anderem nach optischen Konstanten und Schichtdicke analysiert. Abschließend bietet AUTOEL III ein genaues, zuverlässiges und vielseitiges Verfahren zur Messung von Dünnfilm- und Mehrschichtschichtüberzügen. Das Modell wurde entwickelt, um Messungen über einen weiten Bereich von Wellenlängen und Winkeln bereitzustellen. Es ermöglicht Benutzern auch, die besten Parameter für ihre Anwendung auszuwählen, um jedes Mal genaue Ergebnisse zu gewährleisten.
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