Gebraucht RUDOLPH AUTO EL IV #83913 zu verkaufen

RUDOLPH AUTO EL IV ist ein optisches Instrument zur Messung der Dünnschichtdicke und anderer optischer Eigenschaften. Es verwendet die ellipsometrische Technik, eine zerstörungsfreie Methode zur Messung der Dicke, optischen Konstanten und Brechungsindizes von Dünnschichtmaterialien. Es ist ein automatisiertes System, das eine niederwinklig polarisierte Lichtquelle, einen Polarisator, einen hochgenauen drehbaren Analysator und einen Detektor verwendet. Die Lichtquelle wird durch die Polarisatorstation fokussiert, wo das Licht zufällig polarisiert wird. Mit Hilfe der Analysatorstation wird dann die gewünschte Polarisationsantwort der Probenoberfläche durch deren Rotation ausgewählt und die gewünschte Orientierung verriegelt. Das durch den Analysator polarisierte Licht trifft dann auf die Probenoberfläche und wird zum Detektor zurückreflektiert. Zur Bestimmung der Parameter misst der Detektor dann die Intensität des reflektierten Lichts und den Drehwinkel des Analysators. RUDOLPH AUTOEL IV bietet eine Vielzahl von Vorteilen, wie eine schnelle und genaue Verhaltensanalyse von Dünnschichtoberflächen in Echtzeit. Es kann bei der Auswahl nahezu optimaler Abscheidungskonformationen oder bei der Bewertung von Veränderungen der optischen Eigenschaften von Materialien helfen, die Temperatur, Licht oder elektrischen Reizen ausgesetzt sind. Darüber hinaus kompensiert der Detektor automatisch Fehler durch den Einfluss von Drifts in der Temperatur- oder Lichtquellenintensität. Darüber hinaus ist das Gerät mit der Software ausgestattet, die gleichzeitig mehrere Protokolle unterstützt, einschließlich Kontrastmessungen und Brewster-Winkelmessungen, wodurch eine hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit gewährleistet ist. Die Software bietet auch erweiterte Automatisierungs- und Datenverarbeitungsfunktionen und ermöglicht die Kalibrierung optischer Eigenschaften wie Brechung, Absorption und kolorimetrische Werte. AUTO EL IV kann für eine Vielzahl von Anwendungen eingesetzt werden, einschließlich Dünnfilmoptik, Materialoberflächenanalyse, optische Diagnostik und Referenzmessungen. Sie eignet sich besonders für den Einsatz in der Materialwissenschaft, wo die Dünnschichtcharakterisierung in verschiedenen Experimenten gefordert wird. Das Gerät ist aufgrund seiner Geschwindigkeit, Genauigkeit und Zuverlässigkeit zum Industriestandard für die genaue Dünnschichtcharakterisierung geworden.