Gebraucht RUDOLPH AUTO EL #9225841 zu verkaufen

RUDOLPH AUTO EL ist ein Ellipsometer, das den Brechungsindex und die Dünnschichtdicke von Halbleiter- und optischen Materialien mit außergewöhnlicher Genauigkeit und Wiederholbarkeit misst. Das Ellipsometer ist für Forschungslabore, Universitäten und Produktionsstätten konzipiert, die sehr zuverlässige und genaue Ergebnisse erfordern. Seine intuitive Software-Schnittstelle, hochauflösende Bildgebung und automatische Kalibrierung machen die Bedienung schnell und einfach. Das Ellipsometer ist ein spektroskopisches Ellipsometer mit variablem Winkel zur Messung der optischen Eigenschaften dünner Filme mit integrierter IR-Option für anspruchsvollere Anwendungen. Es misst sowohl s- als auch p-polarisierte Spektren gleichzeitig in beliebigen Winkelkombinationen und liefert Auswertedicke und optische Konstanten. Die patentierte variable Winkelvariable Wobble-Technologie reduziert Unvollkommenheiten durch Winkelinstabilität und Taumelei und ermöglicht Messungen von Proben mit mehrschichtigen Strukturen und hoher optischer Rotation. Das Ellipsometer kann Proben jeder Größe oder Form dank einer anpassbaren Probenstufe messen und verfügt über eine 532 nm und eine optionale 633 nm Laserquelle zur sauberen Beleuchtung von lichtreflektierenden Proben. Die fußpedalbetätigte Probenstufe stellt sicher, dass die Probe nur in der gewünschten Position belichtet wird, und ein 5-Zoll-Touchscreen bietet eine großzügige, interaktive Plattform zur Systemsteuerung. Fünf verschiedene Messmodi, einschließlich Intensitätsmessung, Phasenmessung, Mehrwinkelmessung, Einpunktphasenmessung und Dickenmessung, geben maximale Flexibilität. Im Mittelpunkt des Ellipsometers steht die Analysesoftware RUDOLPH MUSE. Durch die Kombination von Spektral-, Overlay- und Punkt-für-Punkt-Datenoperationen generiert MUSE genaue Ergebnisse für eine breite Palette von Dünnschichtmaterialien. Es bietet auch mehrstufige Messungen zur Analyse komplexer Strukturen, Mehrwinkel-Dateninspektion, um Probeninformationen auf einer 2D- oder 3D-Parameterebene anzuzeigen, und mehrfarbige Bildgebung, um kleine Änderungen in der Filmdicke schnell zu identifizieren. Das Ellipsometer liefert hochzuverlässige Daten, die an optische Designsoftware übertragen werden können.