Gebraucht RUDOLPH EL III #9131119 zu verkaufen
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ID: 9131119
Wafergröße: 6"
Weinlese: 1979
Ellipsometer, 6"
Laser source: HeNe 632.8nm
1979 vintage.
RUDOLPH EL III ist ein hochmodernes Ellipsometer für optische Dünnschichtmessungen. Es dient zur Messung und Analyse optischer Dünnschichtschichten, wie sie bei der Herstellung fortgeschrittener Halbleiterbauelemente, optischer Displays und anderer optoelektronischer Bauelemente zu finden sind. Ellipsometrie verwendet eine Präzisionslichtquelle und einen Photodetektor, um die Veränderung der Polarisation von Licht zu messen, nachdem es mit einem dünnen Film interagiert. EL III kombiniert die fortschrittlichen Messfähigkeiten eines polarisierten High-End-Reflektometers mit der leistungsstarken Steuerungs- und Analysesoftware eines Ellipsometers, um Forschern und Ingenieuren beispiellose Präzision und Genauigkeit zu bieten. RUDOLPH EL III verfügt über ein fortschrittliches automatisiertes Messsystem, das die Wellenlänge des Quelllichts und die Polarisationswinkel für eine optimale Abtastung dünner Filme genau einstellt. Dieses leistungsstarke System bietet auch ein Kalibriermodul, um Instrumentendrifts effektiv zu vermeiden und Genauigkeit über eine Vielzahl von Proben zu gewährleisten. EL III bietet auch eine Reihe von Umgebungs-Scan-Funktionen, einschließlich Temperatur- und Feuchtigkeitsregelung, die es perfekt für eigenständige Messungen machen. Neben seinen bemerkenswerten Messfähigkeiten bietet RUDOLPH EL III auch eine Vielzahl leistungsstarker Analysemöglichkeiten. Seine neueste Windows-kompatible Software wird verwendet, um Beispieldaten zu interpretieren, indem eine Reihe von ausgeklügelten Algorithmen auf die gesammelten Daten angewendet wird, um eine Vielzahl nützlicher Parameter zu erzeugen, wie optische Konstanten, Brechungsindizes, Absorptionskoeffizienten und Filmdicke. Darüber hinaus können Daten direkt im Text- oder Grafikformat ausgegeben werden, um sie mit den Standards des Ellipsometry Standards Committee (ESC) zu vergleichen. Schließlich ist EL III für den Anwender konzipiert, um Dünnschichtmessungen so einfach wie möglich zu gestalten. Eine intuitive grafische Benutzeroberfläche macht die Einrichtung und Bedienung von RUDOLPH EL III zum Kinderspiel und eine Auswahl an nützlichen Assistenten und Tutorials sorgt dafür, dass auch neue Benutzer schnell die Bedienung des Instruments erlernen können. EL III liefert auch mit einer Reihe von nützlichen Zubehör, wie halbautomatische Probenstufen und Referenzmusterhalter, um optische Dünnschichtmessung und -analyse noch müheloser und erfolgreicher zu machen.
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