Gebraucht RUDOLPH FE 7 #9147691 zu verkaufen

RUDOLPH FE 7 ist ein optisches Ellipsometer, das zur polarimetrischen spektroskopischen Ellipsometrie fähig ist. Es wird von einer Xenon-Lichtbogenlampe angetrieben und verfügt über einen variablen Winkelmusterhalter, der eine separate Messung von s- und p-polarisiertem Licht von 0 ° bis 70 ° Einfallswinkel ermöglicht. Das Instrument ist mit einem 12-Bit-CCD-Detektor ausgestattet und kann 16 Wellenlängen gleichzeitig messen. Seine Lambda Advanced-Software bietet die Möglichkeit, dünne Filme von 2nm bis 20 μ m aus dem UV-Vis-NIR-Bereich von 290nm - 1700nm zu charakterisieren. RUDOLPH FE-7 bietet Präzisionsmessungen für eine Vielzahl von Anwendungen wie: Reflexions- und Transmissionsanalyse von mehrschichtigen Proben wie Halbleiterfilmen, Beschichtungen und dichroitischen Materialien. Phasenverschiebungs- und Absorptionsinformation für dünne Filme. Messungen sowohl homogener als auch inhomogener Proben. Analyse und Charakterisierung von vergrabenen Grenzflächen, rauen Oberflächen, glatten Oberflächen und dünnen Schichten. Brechzahl- und Dickenmessungen für Proben bis 50 μ m Dicke. Die Kombination aus einer 20-stufigen motorisierten Stufe, einem CCD-Detektor und kalibrierten Filtern macht FE 7 zu einem ausgezeichneten Forschungswerkzeug mit der höchsten polarimetrischen Genauigkeit auf dem Markt. Die einfache Bedienung ist auch eines der Hauptmerkmale mit einer intuitiven grafischen Benutzeroberfläche (GUI). Die intuitive Benutzeroberfläche ermöglicht es dem Benutzer, seine Messeinstellungen schnell zu konfigurieren, das System zu kalibrieren und Daten zu sammeln. Darüber hinaus minimiert die automatische Optimierungsfunktion den Zeitaufwand für Setups und Messungen, während die Skriptfunktion laufende Experimente und Experimente mit großen Probensätzen vereinfacht. Schließlich bietet FE-7 zuverlässige Ergebnisse mit wiederholbaren Messungen. Es hat auch eine einstellbare Laserfleckgröße, die ideal für kleine Proben, wie Halbleitersubstrate ist. Mit diesen Merkmalen ist RUDOLPH FE 7 ein ideales Instrument zur Analyse der polarisierten Licht- und Dünnschichtcharakterisierung.