Gebraucht RUDOLPH FE III #293655511 zu verkaufen

RUDOLPH FE III ist ein Ellipsometer für den Einsatz in Dünnschichtcharakterisierungs- und Schaukelkurvenanalyseaufgaben. Es ist mit einem stufenmotorgetriebenen RUDOLPH FE Nomarski Interferometer ausgestattet und kann extrem dünne Filme auf einer Vielzahl von Materialien genau messen. Die in Umfangsrichtung bewegte lineare inkohärente Lichtfeldbeleuchtungsquelle des Ellipsometers ermöglicht Messungen von 4-85 ° Einfallswinkel mit 20-100 μ m Punktgröße. Diese Messungen geben Aufschluss über die Schichtdicke, optische Anisotropie und andere Parameter. Die Komponenten von RUDOLPH FEIII-Geräten umfassen einen optischen Kopf, einen PC mit einem Touchscreen-Monitor, eine Probendreheinheit, eine Stromversorgung, ein Fernvakuumsystem und eine Probenstufe. Der optische Kopf bietet die Winkelmessung, Bilderzeugungs- und Anzeigefunktionen und akzeptiert eine Vielzahl von austauschbaren Zubehörteilen. Seine Optik verwendet monochromatisches Licht aus einem Helium-Neonlaser mit einer Wellenlänge von 0,6328 μ m und umfasst einen Strahlteiler, eine Objektivlinse, einen Photodetektor und mehrere andere optische Komponenten. Der PC ist in der Lage, den optischen Kopf zu steuern und Messdaten zu speichern. Es ermöglicht auch die Fernbedienung über eine Web-Browser-Schnittstelle, so dass es geeignet für Feldanwendungen und Fernbedienung von einem anderen PC oder Tablet. Die integrierte Zenith ProcessingⓇ Software bietet Live-Filmcharakterisierung aus einer einzigen Messung sowie hochauflösende Schaukelkurven mit der von diesem Modell erwarteten hohen Datenqualität. Die Probendreheinheit kann Proben mit bis zu 40 000 Umdrehungen pro Minute drehen, was für die Erfassung von Schaukelkurven mit hoher spektraler Auflösung erforderlich ist. Die Fernvakuumeinheit dient der energiereichen Probenvorbereitung und ist auch mit einem LED-Mikroskop ausgestattet, das als Ausrichtmaschine verwendet werden kann. FE-III ist auch mit einem Präzisionsschrittmotor und einer Kugelschraube ausgestattet, um die Probenstufe über einen Bereich von bis zu 100 μ m zu bewegen. Dies ermöglicht eine präzise Analyse von Proben mit mehreren Schichten. Zusätzlich können Probentemperatur, Druck und Feuchtigkeit zur genauen Charakterisierung gesteuert werden. Insgesamt ist FEIII ein fortschrittliches und zuverlässiges Ellipsometer, das sich gut für die Messung von Dünnschichtparametern eignet. Die fortschrittliche Optik, die Präzisionsmusterstufe und die benutzerfreundliche Software machen es ideal für eine Vielzahl von Probenanalyseaufgaben.