Gebraucht RUDOLPH FE III #293752178 zu verkaufen

RUDOLPH FE III ist ein Ellipsometer, das von RUDOLPH Research Analytical entwickelt und hergestellt wurde und zur Charakterisierung von Dünnschichtmaterialien verwendet wird. Es funktioniert, indem es Reflexion und Transmission von polarisiertem Licht misst. Das Gerät ist mit einem Polarisator, Phasenverzögerer, Detektorkopf und Goniometer ausgestattet, die jeweils zur Bestimmung der Dicke und optischen Eigenschaften des Dünnfilms wie Brechungsindex, Extinktionskoeffizient und optische Konstanten beitragen. RUDOLPH FEIII wurde entwickelt, um ultrathine (nur 1-2 nm dicke) Filme zu messen, einschließlich Polymere, Halbleiter-Nanostrukturen, Metalle und Dielektrika. Es hat auch eine optionale ultraviolette Befestigung, die die Charakterisierung von ultradünnen Filmen im UV-Bereich ermöglicht. Das Gerät ist computergesteuert, mit einer benutzerfreundlichen Schnittstelle und Datenanalyse-Software für eine einfache Bedienung. FE-III hat eine elliptisch polarisierte Weißlichtquelle, die die Probe beleuchtet, und ein 3-Achsen-Goniometer, das das reflektierte oder transmittierte Licht der Probe misst. Die Einheit ist mit einem rotierenden Polarisator ausgestattet, der das reflektierte Licht aus verschiedenen Winkeln auswählt und an den Detektor sendet, der die Intensität des Lichts und seinen Polarisationszustand misst. Der Detektorkopf besteht aus einem Aperturrad, einem rotierenden Phasenverzögerer und einem Analysatorrad. Zusammen messen sie die optischen Konstanten des ultradünnen Films wie Brechungsindex, Extinktionskoeffizient und Absorptionskoeffizient. Das Gerät verfügt außerdem über eine automatisierte Probenwechsleroption, die die Charakterisierung mehrerer Proben in einem Lauf ermöglicht. Dieses Merkmal stellt sicher, dass eine hohe Genauigkeit erhalten bleibt; Aufgrund der geringen Dicken können kleine Variationen der Probenpositionierung die Messungen beeinflussen. Die benutzerfreundliche Schnittstellen- und Datenanalysesoftware ermöglicht dem Anwender die einfache Erfassung und Analyse von Messungen. RUDOLPH FE-III ist ein Industriestandard zur präzisen und präzisen Charakterisierung extrem dünner Folienmaterialien und somit eine ideale Wahl für Universitäten und Forschungseinrichtungen. Einfache Bedienung, zuverlässige Ergebnisse und hohe Genauigkeit machen dieses Ellipsometer zu einer hervorragenden Wahl für die Charakterisierung von Dünnschichten.