Gebraucht RUDOLPH FE III #9063426 zu verkaufen

RUDOLPH FE III ist ein fortschrittliches optisches Ellipsometer zur Charakterisierung von Oberflächen und dünnen Schichten. Es ermöglicht die Quantifizierung optischer Eigenschaften wie Brechungsindex, Extinktionskoeffizient und Dicke von Oberflächen sowie dünnen Schichten und Mehrschichten. Es kombiniert flüssigkristallbasierte Modulation mit Infrarot-Bildgebungsspektroskopie, um Charakterisierungsergebnisse mit beispielloser Genauigkeit und Vielseitigkeit zu erhalten. RUDOLPH FEIII ist in der Lage, spektroskopische Daten von mittleren Infrarot- bis zu nahezu ultravioletten Wellenlängen zu erfassen und eignet sich daher hervorragend für eine breite Palette von Industrie- und Forschungsanwendungen. Es verfügt über eine computergesteuerte Messkammer mit fünf Bewegungsachsen, die präzise, automatische Messungen auf ebenen oder gekrümmten Oberflächen ohne Rekalibrierung ermöglicht. Darüber hinaus sorgt die Neigungsbewegungskompensation des Kopfes dafür, dass präzise Messungen unabhängig von der Oberflächenorientierung erzielt werden. Das Instrument enthält auch ultraempfindliche Detektoren, die den Bedarf an Laserleistung minimieren und es für die Charakterisierung von dünnen Schichten und empfindlichen Oberflächen äußerst nützlich machen. Es ist mit einem automatisierten, benutzerdefinierten Datenerfassungsprogramm ausgestattet und kann einfach mit einem intuitiven Windows® basierten Softwarepaket programmiert werden. FE-III ist für die Bewertung der Oberflächeneigenschaften von Klebstoffen, Lacken, Beschichtungen und anderen optisch aktiven Substanzen optimiert. Seine empfindlichen Infrarotdetektoren können auch zur Quantifizierung der optischen Eigenschaften von Halbleiterfilmen wie Brechungsindex und Extinktionskoeffizient verwendet werden. Es ist ein unschätzbares Werkzeug für die Forschung in den Bereichen Optik, Materialtechnik und Halbleitertechnik und eignet sich ideal für den Einsatz in Qualitätskontrolle, optischer Messtechnik und Dünnschichtforschungslaboren. RUDOLPH FE-III kann eine breite Palette von optischen Parametern mit extrem hoher Präzision messen. Die automatisierte Fünf-Achsen-Konstruktion vereinfacht den Kalibrierungsprozess und die Kippbewegungskompensation minimiert alle Anforderungen an die Rekalibrierung bei der Messung flacher oder gekrümmter Flächen. Seine ultraempfindlichen Detektoren ermöglichen eine extrem leistungsarme Laserabschätzung, wodurch das Werkzeug für die Dünnschichtcharakterisierung gut geeignet ist. Das Instrument kann einfach in andere analytische und wissenschaftliche Instrumente integriert werden, und seine intuitive Windows® basierte Software macht es einfach zu programmieren. FEIII ist das ideale Werkzeug für ein breites Spektrum an Industrie- und Forschungsanwendungen, von der optisch aktiven Oberflächencharakterisierung bis zur Halbleiter-Dünnschichtanalyse.