Gebraucht RUDOLPH FE III #9139660 zu verkaufen

RUDOLPH FE III
Hersteller
RUDOLPH
Modell
FE III
ID: 9139660
Wafergröße: 6"
Dual wave auto ellipsometer, 6".
RUDOLP RUDOLPH FE III ist ein fortschrittliches spektroskopisches Ellipsometer, das zur Messung der Dicke, Zusammensetzung und optischen Eigenschaften von Materialien verwendet wird. Sie dient in erster Linie zur Messung der optischen Eigenschaften dünner Filme auf Substraten und Oberflächen und kann selbst kleinste Schichtdicken bis in den Nanometerbereich erfassen. Das RUDOLPFE III besteht aus einer vielfältigen Auswahl austauschbarer Empfangsmodule, die in einem weiten Wellenlängenbereich vom UV bis zum IR-Bereich arbeiten. Es wird von einer einfach zu bedienenden grafischen Benutzeroberfläche betrieben, die Daten klar und genau anzeigt und aufzeichnet. Das Gerät verfügt über eine robuste Konstruktion und zuverlässige Leistung, mit einem computergesteuerten optischen System, das einen rotierenden Kompensator verwendet, um das Polarizarion der Reflexion einer Probe zu messen. Es ist in der Lage, kontinuierliche Scan-Modus-Betrieb zu verstehen, sowohl die in-plane und out-of-plane Parameter einer Probe. RUDOLPH FEIII ist mit einer Reihe von spezialisierten Software-Tools ausgestattet, um seine Genauigkeit und Leistung weiter zu verbessern. Die Software bietet eine intuitive Schnittstelle für die Konfiguration des Instruments, die Einrichtung von Parameterscans und die Interpretation von Messdaten. Es kann auch verwendet werden, um die optischen Konstanten und optischen Eigenschaften von Schichtproben zu berechnen. FE-III wird mit einem einzigartigen Zubehör-Kit geliefert, das eine High-End-Referenzzelle für absolute Messungen, optische Polarisationselemente, 4-Elemente-Langpassfilter und ein Spektrometermodul enthält. Dieses Zubehör verbessert die Genauigkeit und Leistung des Geräts weiter. Darüber hinaus verfügt das Instrument über einen integrierten motorisierten Rotator sowie eine zusätzliche Palette optischer Komponenten für die Weitwinkelellipsometrie. Dieses System ermöglicht den Einsatz hochzuverlässiger Messungen und ein extrem breites Spektrum an Analysefähigkeiten. Zusammenfassend ist der RUDOLP FEIII ein hochmodernes spektroskopisches Ellipsometer, das schnelle, präzise und zuverlässige Messdaten bietet und auch kleinste Schichtdicken bis in den Nanometerbereich erfassen kann. Das flexible Design und die genauen Softwarefunktionen machen das Instrument ideal für viele Anwendungen in verschiedenen Branchen.
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