Gebraucht RUDOLPH FE III #9165607 zu verkaufen

RUDOLPH FE III
Hersteller
RUDOLPH
Modell
FE III
ID: 9165607
Wafergröße: 6"
Weinlese: 2007
Wafer thickness measurement system, 6" 2007 vintage.
RUDOLPH FE III ist ein spektroskopisches Ellipsometer, das entwickelt wurde, um die optischen Eigenschaften von Materialien mit extrem hoher Genauigkeit zu messen. Dieses Werkzeug wird in einer Vielzahl von Experimenten eingesetzt, einschließlich reflektierender und transmissiver Beschichtungsmessungen, Halbleiterbauelementstrukturen, optischer Materialcharakterisierung und mehr. RUDOLPH FEIII ist mit einer Peltier-gekühlten CCD-Bildaufnahmekamera ausgestattet und verwendet die Prinzipien der Ellipsometrie, um Messungen der optischen Eigenschaften von Oberflächen mit vernachlässigbarem Spiel, Drift und Hysterese bereitzustellen. FE-III bietet auch überlegene Dynamik und Genauigkeit im Vergleich zu anderen Ellipsometern in seiner Klasse. FE III hat einen 256-Kanal-Wellenlängenbereich (von 200-1200nm) mit einer Auflösung von bis zu 5nm, so dass Benutzer die optischen Eigenschaften von Materialien genau messen können. Das System verfügt über einen computergestützten Probentisch zur Probenpositionierung und ein motorisiertes Polarimeter zur Messung der Ausrichtung. RUDOLPH FE-III verfügt über ein Mobilitätssoftware-Paket, in das es integriert ist, sodass Benutzer das Ellipsometer entweder an einen PC oder netzwerkfähigen PC anschließen können. Das FEIII-Polarimeter hat einen großen Messbereich bis +/- 180 ° und einen großen Bereich für mehrere Probenpositionen. Das System umfasst auch eine Softwarekomponente, die eine externe automatisierte Steuerung von Parametern und erweiterten Messungen ermöglicht. Dies ermöglicht auch Kreuzpolarisation, Divergenzkompensation, Photoelastizität und Mehrwinkelmessungen. RUDOLPH FE III ist ein hochgenaues und zuverlässiges Werkzeug. Die geschlossene Kalibrierung gewährleistet Genauigkeit und Stabilität während des gesamten Messprozesses und ermöglicht präzise und reproduzierbare Messungen. Das System zeichnet sich auch durch außergewöhnliche Stabilität und geringe Geräuschpegel aus, so dass Benutzer selbst die kleinsten Änderungen an optischen Eigenschaften messen können. RUDOLPH FEIII ist ein überlegenes Instrument zur Charakterisierung optischer Materialien und kombiniert die ergonomischen Eigenschaften eines Standard-Ellipsometers mit der technischen Raffinesse eines fortschrittlichen Ellipsometers. Seine überlegene Leistung, benutzerfreundliche Funktionen und erweiterte Softwarefunktionen machen es zu einem zuverlässigen und leistungsstarken Werkzeug für optische Charakterisierung und Forschung.
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