Gebraucht RUDOLPH FE III #9191653 zu verkaufen

RUDOLPH FE III ist ein hochmodernes optisches Ellipsometer, das eine umfassende Charakterisierung von Materialien von der mikroskopischen bis zur makroskopischen Ebene ermöglicht. Es ist ein unverzichtbares Instrument für materialwissenschaftliche Forscher, die optische Eigenschaften einer Vielzahl von Materialien untersuchen, von Polymerfilmen und Oxiden bis hin zu Metallen und Halbleitern. RUDOLPH FEIII verwendet das Prinzip der Ellipsometrie, bei dem die Eigenschaften von Licht gemessen werden, das von einer Probenoberfläche reflektiert wurde. Durch sorgfältige Überwachung der Veränderungen der Lichtpolarisation ist es möglich, ein breites Spektrum optischer Eigenschaften für eine Probe genau zu messen. Dies beinhaltet sowohl den Brechungsindex als auch den Extinktionskoeffizienten. FE-III bietet eine umfassende Charakterisierung der Oberfläche und der an einer Probe vorhandenen Grenzflächen. Dies macht es besonders nützlich für viele Arten von Charakterisierungsarbeiten, wie die von dünnen Folien, Mehrschichtstrukturen und Verbundmaterialien. Es kann auch verwendet werden, um Dicken von dielektrischen Filmen zu bestimmen oder die optischen Eigenschaften eines Materials in Abhängigkeit von der Wellenlänge zu messen. FEIII ist in der Lage, sowohl die Amplitude als auch die Phase des reflektierten Lichtstrahls zu messen. Dies ermöglicht eine genauere Bestimmung optischer Eigenschaften als bei herkömmlichen Ellipsometern. Darüber hinaus können die von RUDOLPH FE-III erzeugten Messungen über einen weiten Winkelbereich erfasst werden, wodurch dem Anwender eine breite Palette von Messmöglichkeiten zur Verfügung steht. FE III ist ein vielseitiges Instrument mit vielfältigen Einsatzmöglichkeiten. Es eignet sich gut zur Charakterisierung von Materialien und Geräten in Forschung und Entwicklung und wurde sogar in Produktionsanlagen eingesetzt, um sicherzustellen, dass hohe Standards konsequent eingehalten werden. Abschließend ist RUDOLPH FE III ein fortschrittliches optisches Ellipsometer, das genaue Messungen der Materialeigenschaften auf mikroskopischer und makroskopischer Ebene ermöglicht. Es ist ein unschätzbares analytisches Werkzeug für die materialwissenschaftliche Forschung, das es ermöglicht, eine Vielzahl von Materialien und Geräten mit hoher Präzision zu charakterisieren.