Gebraucht RUDOLPH FE IIID #293604305 zu verkaufen

Ein RUDOLPH FE IIID Ellipsometer ist ein hochentwickeltes optisches Messtechnikgerät, das die Prinzipien der Polarisation und Ellipsometrie verwendet, um die optischen Eigenschaften von Oberflächen zu messen. Es misst die Dicke von dünnen Schichten und Oberflächenparametern sowie gibt Rückmeldung über die physikalischen Eigenschaften von dünnen Schichten auf verschiedensten Substraten. RUDOLPH FE-IIID Ellipsometer ist mit einer Vielzahl von Eigenschaften und Fähigkeiten entwickelt, so dass es eine ideale Wahl für anspruchsvolle optische Messungen. FE III D Ellipsometer verwendet eine feste und variable Winkelgeometrie, die genaue Messungen und zuverlässige Charakterisierung der Dünnschichteigenschaften bietet. Diese modernste Technologie ermöglicht sowohl Inline- als auch Labormessungen, wodurch die manuelle Änderung des Einfallswinkels entfällt. Sein variabler Winkelbereich von 30-85 ° ermöglicht Messungen von dünnen Filmen mit variablem Einfallswinkel an derselben Probe. Darüber hinaus verfügt das FE IIID Ellipsometer über einen hochempfindlichen polarisierten Detektor. Dieses einzigartige Merkmal ermöglicht die Erfassung winkelabhängiger ellipsometrischer Parameter (d.h. Amplitude, Phase). Der Detektor weist zudem eine überlegene Wellenlängenauigkeit und Detektionsgenauigkeit auf und eignet sich somit ideal für die Messung von dünnen Filmen und Oberflächeneigenschaften. FE-IIID Ellipsometer kommt mit SEAR-Software für eine einfache Benutzererfahrung. SEAR ist eine benutzerfreundliche Schnittstelle, die eine komplette Palette von Analysefunktionen wie Ebenenmodellierung (Modellierung dünner Filme auf einem Substrat), Stapelmodellierung (Modellierung komplexer Stapel dünner Filme) und Graphisierung von gemessenen Parametern umfasst. Die Software ist eine intuitive Plattform, die einen einfachen Messaufbau ermöglicht und umfassende Datenanalysefunktionen bietet. RUDOLPH FE III D Ellipsometer verfügt auch über mehrere Hardwarefunktionen, die für erweiterte Ellipsometrieanwendungen entwickelt wurden. Es ist mit einem ferngesteuerten Motor ausgestattet, der die Drehung des kompensierten High Speed Liquid Crystal (HSLC) -Detektors erleichtert. Dies ermöglicht die winkelabhängigen Messungen, die Informationen über die Winkelabhängigkeit der Probe liefern. Darüber hinaus ist die Vorrichtung mit einer mechanisierten Probenstufe zur Bequemlichkeit und einfachen Probenpositionierung ausgestattet. Es kommt auch mit einem vereinfachten Probenwechsel, um die Probenänderungen weiter zu beschleunigen. RUDOLPH FE III/D Ellipsometer ist eine ausgezeichnete Wahl für präzise optische Messtechnik. Seine leistungsstarken Eigenschaften machen es zu einem idealen Gerät für Anwendungen mit Dünnschichtcharakterisierung und optischer Eigenschaftsmessung. Mit der benutzerfreundlichen SEAR-Software, fortschrittlicher Technologie und ihren vielen Funktionalitäten bietet das FE III/D Ellipsometer zuverlässige, genaue Messungen und Charakterisierung von dünnen Schichten und Oberflächen.