Gebraucht RUDOLPH FE IIID #293660842 zu verkaufen

RUDOLPH FE IIID ist ein fortschrittliches ellipsometrisches Spektrometer, mit dem optische Parameter wie der Brechungsindex und die Dicke dünner Filme und Grenzflächen gemessen werden. Dieses Instrument ist eine automatische, einfach zu bedienende, robuste Plattform, die es Anwendern ermöglicht, eine breite Palette von Materialien wie Halbleiter, Dielektrika, Polymere und Kombinationsfolien zu messen. Das RUDOLPH FE-IIID-System kombiniert einen leistungsstarken 1,5 mW HeNe-Laser, eine ausgeklügelte Software-Steuerung und Rückkopplung und einen invertierten optischen Kopf, mit dem Proben mit uneingeschränkter Höhe analysiert werden können. Das System besteht aus einem invertierten optischen Kopf, der nicht nur zu uneingeschränkten Höhenproben in der Lage ist, sondern auch Ellipsometermessungen bis auf wenige Nanometer Dicke ermöglicht. Der optische Kopf hat einen motorisierten Polarisator, Kompensator und Probenachse, die präzise Dreheinstellungen von -90 ° bis + 90 ° ermöglichen. Es ist auch ein CCD-Detektor-Design vorgesehen, das schnelle Datenerfassungszeiten und gleichmäßige spektrale Reaktionen von 250nm bis 950nm bietet. Der HeNe-Laser, der mit 632,8 nm betrieben wird, ist sehr stabil und verfügt über eine ausgezeichnete Strahlmodenfilterung. Diese Stabilität ermöglicht genauere Messungen über einen weiten Winkelbereich. Der Laser ermöglicht auch hochreflektierende Messungen, die für den Einsatz mit Reflexionsspektroskopie und anderen Techniken wie Mueller-Matrix-Anwendungen geeignet sind. FE III D enthält eine einstellbare Lichtquelle, die es für die Dünnschichtcharakterisierung mit Polarisatorpermittivität und Reflexions-/Transmissionsspektren geeignet macht. Die Spektren können mit der polarisierten Lichtspektroskopie erhalten und die Spektren mit den Spektren der Probe verglichen werden. Zusätzlich kann RUDOLPH FE III/D Interferenzfarbe, Transmissions-/Reflexionskoeffizienten sowie die azimutale und polare Varianz einer Probe messen. Die intuitive Software ist auf Benutzerfreundlichkeit ausgelegt und ermöglicht es Benutzern, relevante Daten wie Beispielnamen, Dicke und Brechungsindex einzugeben. Es bietet auch Datenanalyse und verschiedene Modellierungsfunktionen. Benutzer können Daten in mehreren Formaten exportieren, um sie weiter zu analysieren oder mit Kollegen zu teilen. FE III/D ist ein zuverlässiges und leistungsstarkes Spektrometer mit flexiblem optischen Kopfdesign, einstellbarer Lichtquelle, HeNe-Laserstabilität und leistungsstarker Softwaresteuerung. Dies macht FE IIID zu einer idealen Wahl für Ellipsometeranwendungen, die hochgenaue Daten und schnelle Messungen über eine breite Palette von Materialien erfordern.