Gebraucht RUDOLPH FE IIID #9139658 zu verkaufen

RUDOLPH FE IIID
Hersteller
RUDOLPH
Modell
FE IIID
ID: 9139658
Wafergröße: 6"
Dual wave auto ellipsometer, 6".
RUDOLPH FE IIID ist ein Ellipsometer zur Messung der physikalischen Dicke und optischen Eigenschaften dünner Filme. Es funktioniert, indem es polarisiertes Licht auf eine Probe strahlt und dann die resultierenden Intensitäts- und Polarisationsänderungen misst. Die resultierenden Daten können zur Bestimmung der Dicke und optischen Konstanten (Brechungsindizes und Absorptionskoeffizienten) von Dünnschichtmaterialien verwendet werden. RUDOLPH FE-IIID verwendet eine CCD-Kamera mit sieben hochempfindlichen optischen Filterbändern im Bereich von 350 bis 2800 Nanometern, um Probenoberflächen genau zu messen und zu analysieren. Durch die Kombination der von der CCD-Kamera gemessenen Winkelinformationen mit den Intensitätsdaten eines sichtbaren Helium-Neon-Lasers kann FE III D Messungen an mehreren Punkten bis zu einem halben Millimeter Abstand erhalten. Neben einem nützlichen Werkzeug für die interne Forschung ist FE-IIID in der Lage, zuverlässige Daten für Qualitätskontrollzwecke zu erhalten. Beispielsweise müssen Hersteller von Halbleitern häufig die genaue Dicke dünner Folien zur Produktsteuerung messen. Die von FE III/D erzeugten Daten sind sehr zuverlässig, wenn es um die Messung von Dünnschichtablagerungen und deren damit verbundenen optischen Konstanten geht. Aufgrund seiner extremen Genauigkeit und Haltbarkeit ist RUDOLPH FE III D zu einer häufigen Wahl für Labore und Produktionsanlagen geworden, die schnelle, genaue und zuverlässige Messungen von Dünnschichtmaterialien erfordern. Aufgrund seines fortschrittlichen Datenerfassungs- und Analysesystems ist RUDOLPH FE III/D in der Lage, den Forschern die genauen Ergebnisse zu liefern, die sie benötigen. FE IIID ist ein flexibles, einfach zu bedienendes und zuverlässiges System zur Präzisionsmessung von Dünnschichtproben. Seine hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit machen es zum perfekten Werkzeug, um umfassende Informationen über Dünnschichtmaterialien abzuleiten. Diese Informationen sind für Qualitätskontrollen und Forschungszwecke von unschätzbarem Wert.
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