Gebraucht RUDOLPH FE IIID #9296247 zu verkaufen

RUDOLPH FE IIID ist ein fortschrittliches spektroskopisches Ellipsometer, das entwickelt wurde, um dünne Filme zu messen und automatisierte Charakterisierungen von Materialien durchzuführen. Es arbeitet nach dem Prinzip der Ellipsometrie, wo Licht verwendet wird, um die physikalischen Eigenschaften eines Materials, meistens Dicke und Brechungsindizes zu bestimmen. RUDOLPH FE-IIID ist mit einem HeNe-Laser ausgestattet, der Licht mit einer Wellenlänge von 633nm liefern kann, und kann einen weiten Dickenbereich von mehreren Nanometern bis zu mehreren hundert Nanometern messen. Das Ellipsometer besteht aus optischen Komponenten, wie Polarisatoren, Strahlteilern und Kompensatoren, die mit polarisiertem Licht aus der Laserquelle die optischen Eigenschaften eines Dünnfilms oder einer Beschichtung genau messen. Das Instrument besteht aus mehreren Abteilungen, die Probenstufe, Ellipsometerkopf und Steuerbereich umfassen. Die Probenstufe dient zum Halten und Positionieren des dünnen Films, während der Ellipsometerkopf aus einer Reihe von Optik und Zubehör besteht, die die Dünnschichteigenschaften genau messen. Im Steuerbereich befinden sich die Strom- und Kommunikationstafeln, mit denen der Benutzer die Einstellungen steuern und die Parameter des Instruments anpassen kann. FE III D bietet eine Reihe von leistungsstarken Funktionen, so dass es in der Lage ist, Komponenten und Materialien mit hoher Präzision und Genauigkeit zu messen. Es verfügt über hochempfindliche optische Komponenten sowie einen breiten Messbereich, der eine automatisierte Charakterisierung von Materialien ermöglicht. Das Instrument ist mit einer Fernbedienung ausgestattet, die es dem Benutzer ermöglicht, Einstellungen einzustellen und die Parameter zu ändern, ohne mit dem Instrument in Kontakt zu kommen. Zusätzlich kann die Einheit beide Seiten einer Probe gleichzeitig messen und einen einzigen Satz von Messungen bereitstellen. Alle Messungen, die mit FE-IIID durchgeführt werden, gelten als hochgenau und zuverlässig und sind somit ideal für Labore, die nach präzisen, wiederholbaren Ergebnissen suchen. Leistungsstarke Software ist im Lieferumfang enthalten und ermöglicht eine einfache Datenanalyse und -speicherung. Das Instrument ist auch mit den meisten Mikroskopsystemen kompatibel und eignet sich somit perfekt zur Untersuchung und Charakterisierung extrem dünner Filme und kleiner Strukturen. Abschließend ist FE III/D ein fortschrittliches spektroskopisches Ellipsometer, das hochgenaue und zuverlässige Messungen von dünnen Filmen und Beschichtungen liefert. Ausgestattet mit einer Reihe von leistungsstarken Funktionen, automatisierten Charakterisierungen und einer Fernbedienung ist dieses Instrument ideal für Labore, die hochpräzise wissenschaftliche Messungen suchen.