Gebraucht RUDOLPH FE IV #9083743 zu verkaufen

RUDOLPH FE IV ist ein fortschrittliches Ellipsometer, das entwickelt wurde, um Dünnschichteigenschaften durch optische Interferenz mit hoher Genauigkeit zu messen. Das Ellipsometer verwendet ein 4-Wellenlängen-monochromatisches Beleuchtungs- und berührungsloses Messverfahren, das verschiedene Materialien wie Metalle, Oxide, Polymerfilm und Nanomaterialien präzise messen kann. Darüber hinaus ist das Gerät in der Lage, dünne Filme im Bereich von 1 - 1000 nm mit einer Genauigkeit von 0,01 ° zu messen. RUDOLPH FE-IV verwendet eine Niedervakuumkammer, um Luftturbulenzen zu reduzieren und hochgenaue Messungen von Oberflächenfolien zu gewährleisten. Die Genauigkeit des Ellipsometers wird durch seine hohe Retardanzmessfähigkeit weiter verbessert, was eine genauere Messung dünnerer Folien ermöglicht. Das Gerät ist mit zwei polarisierten Lasern und einer weißen Lichtquelle ausgestattet und hat die Fähigkeit, Einfallswinkel bis zu 70 ° mit einer Auflösung von 0,001 ° im nahen Infrarot-, sichtbaren und ultravioletten Bereich zu messen. FE IV hat auch eine große Probengröße Fähigkeit, so dass es bis zu 3 cm ² der Probenfläche und eine Vielzahl von Musterformen, wie 2D und 3D-Oberflächen zu messen. Darüber hinaus soll das Gerät Daten über Beschichtungsdicke, Brechungsindex, optische Anisotropie und Film-Doppelbrechung sammeln, so dass Benutzer komplexe optische Oberflächen- und Dünnschichtsysteme analysieren können. FE-IV verfügt über robuste Software- und Hardwarefunktionen, um einem breiten Spektrum von Forschungsanforderungen gerecht zu werden. Zum Beispiel verfügt es über eine Fernbedienung mit plattformübergreifender Kompatibilität, wodurch Benutzer Messungen von mehreren Plattformen wie PCs, Macs und Tablets ausführen können. Darüber hinaus bietet die intuitive und benutzerfreundliche Software des Ellipsometers dem Anwender verschiedene Tools zur Datenanalyse und Visualisierung. Insgesamt ist RUDOLPH FE IV ein technologisch fortschrittliches Ellipsometer, das hochgenaue und zuverlässige Messungen der Dünnschichteigenschaften in einer Vielzahl von Materialien ermöglicht. Seine einfach zu bedienende Software und sein breites Leistungsspektrum machen es zu einem wertvollen Werkzeug für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen.