Gebraucht RUDOLPH FE IV #9271610 zu verkaufen
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ID: 9271610
Wafergröße: 8"
Weinlese: 1995
Thickness measurement system, 8"
1995 vintage.
RUDOLPH FE IV ist ein fortschrittliches Ellipsometer von RUDOLPH Technologies, Inc. Es ist ein leistungsfähiges Analysewerkzeug zur Messung der optischen Eigenschaften von Materialien wie dünnen Schichten und kleinen Partikeln. Das Gerät ist mit einer Reihe von anspruchsvollen Funktionen ausgestattet, darunter eine einzigartige, großflächige Probenkammer für Hochgeschwindigkeitsmessungen und eine maßgeschneiderte computergesteuerte Antriebsausrüstung, die ein schnelles Scannen von Proben ermöglicht. Das Instrument besteht aus einem optischen System mit einem Wellenlängenbereich von 350 bis 1650 nm, einer Probenstufe und einer hochgeschwindigkeitsgeregelten Antriebseinheit. Ein einziger Lichtstrahl, typischerweise von einer Xenonlichtquelle, wird in die optische Maschine eingebaut und auf die Probenstufe gerichtet, wo er in eine einfallende Welle und eine polarisierte reflektierte Welle transformiert wird. Die reflektierte Welle wird dann von einer CCD-Kamera erfasst und der Polarisationswinkel gemessen. Das Erfassungswerkzeug wandelt die erfassten Informationen in eine Intensitäts- und Phasenkarte um, mit der die Elemente der Mueller-Matrix berechnet werden. Diese Matrix wird je nach Modell des Ellipsometers im 2x2- oder 4x4-Format erzeugt und zur Berechnung der optischen Parameter der Probe verwendet. Die erfassten Daten können dann zur Analyse und weiteren Manipulation mit spezialisierten Softwarepaketen wie der RUDOLPH EllipsWerks Software eingesehen werden. Mit dem RUDOLPH FE-IV Ellipsometer können Benutzer die Auswirkungen der Lichtstreuung auf Materialien wie Totalreflexion, Extinktionskoeffizient, optische Absorption, Brechungsindex, Beschichtungsdicke und optische Anisotropie genau messen. Die große Probenkammer ermöglicht auch eine schnelle Messung von Folientopographie und Beanspruchung. Darüber hinaus kann das Instrument verwendet werden, um die Eigenschaften von nicht transparenten Proben wie Metallpunkten zu messen, so dass es für eine Reihe von Forschungsanwendungen in einer Vielzahl von Branchen geeignet ist. Darüber hinaus zeichnet sich das Instrument durch seine einfache Bedienung und minimale Benutzereinbindung aus, so dass Benutzer eine Vielzahl von Proben mit minimalem Training schnell und genau messen können. Seine hohe Genauigkeit, Benutzerfreundlichkeit und das Leistungsspektrum machen das FE IV Ellipsometer zu einem leistungsstarken Werkzeug für Forschung und Fertigung.
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