Gebraucht RUDOLPH FE IV #9398259 zu verkaufen

RUDOLPH FE IV
Hersteller
RUDOLPH
Modell
FE IV
ID: 9398259
Wafergröße: 8"
Weinlese: 1995
Thickness measurement system, 8" 1995 vintage.
RUDOLPH FE IV ist ein optisches Ellipsometer, das zur genauen Messung der optischen Eigenschaften dünner Materialien verwendet wird. Das Gerät ist ein 4-Wellenlängen-Instrument, das die Bestimmung optischer Beschichtungsparameter mit polarisiertem Licht ermöglicht. Es kann einen weiten Bereich von Einfallswinkeln von 10 ° bis 70 ° messen und eignet sich sowohl für Messungen bei nahezu normaler als auch außerhalb der Ebene. RUDOLPH FE-IV verwendet ein Interferenzfilterrad, mehrere Photodetektoren und einen linearen Polarisator, um genaue polarimetrische Parameter zu messen. Sein Design wurde gegenüber den vorherigen FE III Ellipsometer-Modellen aufgrund der Verwendung von vier Wellenlängen von Laserlicht (633nm, 515nm, 488nm und 478nm) verbessert, um die Probe aus mehreren Winkeln zu messen. Diese Messungen werden dann zur Berechnung der optischen Konstanten der Probe verwendet. Das Instrument ist als Bench-Top konzipiert und die Ausgangsdaten können mit der Windows-basierten AE Win-EV-Software einfach analysiert werden. Die Software verfügt über ein leistungsstarkes Kurvenanpassungswerkzeug, um den Benutzer bei der Extraktion der Materialkonstanten aus den Daten zu unterstützen. Das Instrument enthält auch eine integrierte Probenplatte, die eine einfache Ausrichtung der Proben auf den Strahlachspfad ermöglicht. Darüber hinaus machen die intuitive Benutzeroberfläche und das grafische Display FE IV zu einer idealen Wahl für optische Beschichtungsmessungen. Das System ist auch mit Blick auf Robustheit konzipiert, bietet einfache Wartung und langfristige Haltbarkeit. Das fortschrittliche Design hilft, genaue Messungen über eine breite Palette von Substraten und Polarwinkeln zu gewährleisten. Insgesamt ist FE-IV ein vielseitiges Ellipsometer für Forscher, die ein zuverlässiges und genaues System zur Messung optischer Konstanten von dünnen Filmen und Oberflächen suchen. Sie liefert die für Untersuchungen auf Forschungsebene erforderliche Präzision und eignet sich für den Einsatz in einer Laborumgebung.
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