Gebraucht RUDOLPH FE VII D #9097167 zu verkaufen

RUDOLPH FE VII D ist ein Ellipsometer zur Charakterisierung dünner Filme und Oberflächen. Es verwendet sowohl breitbandige als auch monochromatische Beleuchtung, um den Polarisationsgrad von rückreflektiertem Licht zu messen. Die erfassten Daten können dann zur Charakterisierung dünner Filme und Oberflächen verwendet werden, einschließlich Dielektrizitätskonstanten, Schichtdicke und optischer Anisotropie. RUDOLPH FE VIID verfügt über einen hochentwickelten digitalen Signalprozessor mit vier synchronisierten CPUs, der gleichzeitig ellipsometrische Messungen in bis zu 16 Frequenzen bis zur Wellenlänge von 400 nm ermöglicht sowie eine hohe Präzision und Wiederholbarkeit gewährleistet. Es verfügt über ein integriertes Softwarepaket, mit dem Benutzer problemlos analytische Funktionen erstellen und zuverlässige und genaue Daten erfassen können. Es unterstützt auch multispektrale Bildgebung, so dass Benutzer eine vollständige Matrix von Parametern mit einem einzigen Scan zu sammeln. Das robuste und langlebige Design von FE-VIID umfasst einen Aluminiumrahmen, einen korrosionsbeständigen Edelstahlsockel und einen spezialisierten Tisch für die Montage von Polarisationskomponenten. Die kompakte Bauweise ermöglicht auch eine einfache Integration in bestehende Prozesse und Instrumentensuiten. Die Integration umfasst eine Vielzahl von Schnittstellen, wie WLAN und Ethernet, die die Remote-Datenerfassung und -speicherung schnell und komfortabel machen. RUDOLPH FE-VIID ist mit mehreren optionalen Analysepaketen erhältlich, darunter ein spezielles Folienstresspaket. Dieses Paket bietet Benutzern eine einzigartige Kombination aus Ellipsometriemessungen, grafischen Darstellungen und Berechnungen von Spannungsparametern von dünnen Filmen. Es enthält auch ein Spannungsparameter-Mapping-Tool, das ideal für großflächiges Scannen und Charakterisieren ist. Schließlich verfügt FE VIID über ein Soft-Start-System, das die zur Messung von Proben erforderliche Rüstzeit erheblich reduziert. Darüber hinaus ermöglicht das hochgenaue System zur Positionierung und Einstellung von Proben eine schnelle und bequeme Ausrichtung der Proben, was die Zeit für ellipsometrische Messungen erheblich reduziert.