Gebraucht RUDOLPH FE VII D #9284351 zu verkaufen

RUDOLPH FE VII D ist ein fortschrittliches optisches elliptisches Polarimeter, das entwickelt wurde, um die optischen Eigenschaften dünner Filme und geschichteter Oberflächen mit hoher Genauigkeit zu messen. Dieses Instrument ist eine hochempfindliche spektroskopische Mehrwellenlängenplattform, die mit einem kreisförmigen Polarimeter die Transmissions- und Reflexionseigenschaften von dünnen Filmen und Mehrschichtstapeln misst. Mittels zirkularer einfallender Polarisation misst diese Vorrichtung auch optische Brechungsindizes, Extinktionskoeffizienten, Filmdicke, Oberflächenrauhigkeit und Schichtstruktur. Es ist mit einer Reihe von Fähigkeiten ausgestattet, einschließlich der folgenden: Ein Polarisator mit variablem Winkel, um die Folien- und Substratparameter bei einer variierten Wellenlänge zu messen. Spektral aufgelöste Messungen zur Bestimmung der optischen Konstanten, Folien- und Substratparameter und der Grenzflächenrauhigkeit. Fähigkeit, komplexe Proben von Schichtfolien und Grenzflächen mit hochabsorbierenden Schichten zu messen. Hochauflösendes breitbandiges Spektrometer zur Bestimmung der optischen und strukturellen Eigenschaften von Filmoberflächen. Eingebaute Kamera zur visuellen Inspektion der Probe. Programmierbare LED zur Beleuchtung von Probenoberflächen. Abtastlasersystem zur Messung der Schichtdicke über einen weiten Wellenlängenbereich. Spezialisierte Software für die Analyse und Interpretation von Daten wie leistungsstarke Filmanpassung und Mustererkennung. Durch die Nutzung dieser Funktionen ermöglicht RUDOLPH FE VIID den Anwendern eine schnelle, präzise und zuverlässige Auswertung der optischen und strukturellen Eigenschaften von dünnen Filmen und Schnittstellen. Mit diesem Instrument können verschiedene Materialien wie Metalle, Oxide, Polymere und Halbleiter analysiert werden. Darüber hinaus bietet es eine niedrige Kosten, hohe Auflösung und genaue optische Charakterisierung der Probe. Mit seinem breiten Leistungsspektrum kann FE-VIID ein breites Spektrum an Forschungsanforderungen erfüllen und den Zeitaufwand für die Aufdeckung und Identifizierung optischer Eigenschaften von Probenoberflächen deutlich verkürzen.