Gebraucht RUDOLPH FE VII #182438 zu verkaufen

RUDOLPH FE VII ist ein Ellipsometer, ein Gerät, das verwendet wird, um die optischen Phänomene der Oberflächenfilmdicke, Doppelbrechung, optische Konstanten und Brechungsindex zu messen. Es ist in der Lage, die Veränderungen der Lichtpolarisation in kleinen Winkeln (bis zu 0,05 Grad) zu messen. RUDOLPH FEVII läuft auf einer Lumencor SOLA-Quelle, einer stationären Lichtquelle mit LED-Technologie. Die LED beleuchtet die Probe in einem Einfallswinkel von 0 bis 87 °. Zur Messung der Veränderungen der Lichtpolarisation werden eine Viertelwellenplatte und ein Polarisator verwendet. Die Daten werden über den Einfallswinkel gesammelt und in Form von Mueller-Matrizen gesammelt. FE-VII wird üblicherweise zur Charakterisierung von Dünnschichteigenschaften und optischen Eigenschaften transparenter Proben verwendet. Es kann für eine Reihe von Anwendungen wie die Messung der optischen Eigenschaften von Flüssigkeiten, Gasen, Kristallen und Beschichtungen verwendet werden. Darüber hinaus ist RUDOLPH FE-VII in der Lage, die Schichten von dünnen Nanofilmen zu analysieren. Die präzisen Messungen können einen tiefgehenden Einblick in die Filmstruktur, Zusammensetzung und deren Fließfähigkeit geben. FE VII ist extrem vielseitig, da es konfiguriert werden kann, um in einer Vielzahl von Einstellungen zu arbeiten. Beispielsweise kann es in den Reflexions- und Transmissionsmodi auf einer Vielzahl von Materialien eingesetzt werden, einschließlich Glasschieber und Siliziumscheiben. Die Proben können in einem polaren Koordinatensystem mit einem Einfallswinkelbereich von 0 bis 87 ° gemessen werden. Darüber hinaus ist FEVII auch in der Lage, Eigenschaften von Mehrschichtproben mit Zwischenschichtbrechungsindex und Dickenprofilen zu analysieren. RUDOLPH FE VII ist mit verschiedenen Zubehörteilen ausgestattet, um die Genauigkeit und Präzision der Messungen zu maximieren. Es verwendet Software, um eine umfassende Datenanalyse und Datenvisualisierung bereitzustellen. Diese Software ermöglicht es Benutzern auch, schnell die Informationen zu erhalten, die sie benötigen. Weiterhin steht ein spezielles Spectral Ellipsometer zur Verfügung, das die Messung der spektralen Reaktion dünner Filme über einen weiten Wellenlängenbereich (350nm-1100nm) ermöglicht. RUDOLPH FEVII ist ein wesentliches Werkzeug für schnelle und genaue Dünnschichtmessungen. Sie ist äußerst vielseitig einsetzbar und kann Dünnschichteigenschaften und optische Eigenschaften unterschiedlichster Proben messen. Es ist mit mehreren Zubehörteilen ausgestattet, um Genauigkeit und Präzision zu maximieren. Dieses Gerät bietet eine schnelle und umfassende Datenanalyse, so dass Benutzer schnell die benötigten Daten erhalten. Darüber hinaus bietet die Kompatibilität mit einem Spectral Ellipsometer weitere Messmöglichkeiten.