Gebraucht RUDOLPH FE VII #293647734 zu verkaufen

RUDOLPH FE VII ist ein Ellipsometer zur Messung optischer Parameter wie Brechungsindex und optische Dicke dünner Filme und Oberflächen. Das Gerät ist eine aktualisierte Version des äußerst erfolgreichen RUDOLPH FE-VI, der seit über 20 Jahren zuverlässige und genaue Messungen an einer Vielzahl von Proben liefert. RUDOLPH FEVII hat eine Reihe von Besonderheiten: Mikroprozessorgesteuerte Software sorgt für genaue Datenerfassung Der einzigartige Designmodus ermöglicht die automatische Kompensation von Neigungen und Exzentrizitäten von der Probenebene aus Der Schnellmessmodus ermöglicht schnellere Messungen und reduziert die Anzahl der erforderlichen Messungen. Wellenlängenauswahl ist frei zugänglich im Bereich von 300 bis 800 Nanometern Der High Selectivity Mode ermöglicht die gleichzeitige Messung sowohl linearer als auch zirkularer Polarisationen, Automatische Datenerfassung ist möglich mit dem optionalen Datenerfassungsmodus Der patentierte automatisierte Mehrfachmessmodus ist ein unschätzbares Werkzeug zur Messung mehrerer Proben, ohne dass ein neues Experiment eingerichtet werden muss. Der patentierte Over-Range Measurement Mode ist einzigartig für FE-VII, Zulassen von Messungen von Proben mit optischen Parametern, die den Bereich überschreiten, der typischerweise mit Ellipsometern gemessen wird. Erweiterte Temperatur- und Druckbereiche sind für die Verwendung mit anderen Geräten verfügbar In RUDOLPH FE-VII aufgezeichnete Daten werden leicht in eine Vielzahl von Formaten zur Analyse übertragen; einschließlich ASCII, ISO 16487 und JIS X 0401 Die vielen Funktionen kombiniert mit fortschrittlicher Software machen FEVII zu einem vielseitigen Werkzeug für eine breite Palette von Materialien in den Bereichen Physik, Optomechanik, Optik und mehr. Mit seiner extremen Genauigkeit, präzisen Steuerungssystemen und erweiterten Temperatur-/Druckbereichen kann FE VII Proben auch komplexer Strukturen und Oberflächen genau messen und ist damit ein unschätzbares Werkzeug für F&E und Probencharakterisierung.