Gebraucht RUDOLPH FE VII #9083744 zu verkaufen

RUDOLPH FE VII ist ein fortschrittliches Ellipsometer mit hoher Genauigkeit und Messwiederholbarkeit, das ein leistungsstarkes Werkzeug zur Messung von dünnen Schichten und Substratdicken bietet. Dieses Ellipsometer ist in der Lage, die Dicke von Filmen aus beliebigem Material von 1 Nanometer bis 1 Mikron mit einer Genauigkeit von 0,2 nm zu messen. Sie ist dazu ausgelegt, sowohl die optische Absorption als auch die Transmission der Schichtdicke über einen weiten Wellenlängenbereich zu messen. Dies macht es ideal für die Analyse der optischen Eigenschaften von dünnen Filmen. RUDOLPH FEVII Ellipsometer ist ein multifunktionales Modell, das mit modernster Technologie genaue Dünnschichtmessergebnisse liefert. Neben einer genauen Messung der Foliendicke kann es auch seine optische Leistung messen. Dieses Instrument ist ein zuverlässiges Werkzeug, um optische Filme, optische Komponenten und andere Komponenten des optischen Systems zu untersuchen, die in den Forschungs- und Entwicklungsanwendungen verwendet werden. Das Gerät ist mit einer intuitiven Windows® XP-kompatiblen Software ausgestattet, die es Anwendern ermöglicht, Filmdaten einfach zu erfassen und zu speichern, Daten zu analysieren, um die Dicke zu berechnen und die optische Absorption zu berechnen. FE-VII Ellipsometer ist in der Lage, mehrere Parameter zu messen, einschließlich optische Filmdicke, optische Absorption, Menge des durchgelassenen Lichts, Polarisation, Reflektivität und Streuung. Die verarbeiteten Versuchsergebnisse können in verschiedenen Anwendungen wie optischer Gerätedesign, Materialwissenschaften und Halbleiterbauelementforschung eingesetzt werden. FEVII hat einen geringen Stromverbrauch und enthält ein eigenes PC-Netzteil, was es zu einem bequemen tragbaren Gerät macht. Die Temperaturkompensationsfunktion ermöglicht es dem Benutzer, die Schrittauflösung und die Abtastgeschwindigkeit anzupassen, ohne die Genauigkeit der Messwerte zu beeinflussen. Dieses hochpräzise Modell ist auch mit einem abnehmbaren Wafer-Spannfutter für einfaches Laden konzipiert und profitiert weiter von Forschungs- und Entwicklungsanwendungen. Das FE VII Ellipsometer ist ein äußerst zuverlässiges und dennoch äußerst erschwingliches Instrument zur genauen Dünnschichtmessung. Die Kombination aus Genauigkeit, Wiederholbarkeit und Vielseitigkeit macht es auch zu einem Werkzeug der Wahl für viele optische Analyseanwendungen. Darüber hinaus bietet die einfach zu bedienende Software eine einfache Lösung für Datenspeicherung, -verarbeitung und -analyse. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen bietet dieses Modell einen hervorragenden Wert für Benutzer, die ein genaues, effizientes Instrument zur Messung von dünnen Schichten und optischen Komponenten benötigen.