Gebraucht RUDOLPH FE VII #9097169 zu verkaufen

RUDOLPH FE VII ist ein Ellipsometer, das eine effektive und kostengünstige Lösung zur Charakterisierung der optischen Eigenschaften dünner Filme bietet. Im Gegensatz zu herkömmlichen Ellipsometriesystemen benötigt RUDOLPH FEVII keine mehreren Lichtkomponenten, so dass es eine vereinfachte und einfachere Herangehensweise an die optische Messtechnik bietet. Das Gerät bietet zudem eine überlegene Genauigkeit mit einem Fehler von weniger als 0,05 ° aufgrund seiner präzisen optischen und mechanischen Konstruktion. Dies macht es ideal für Anwendungen wie Filmdickenüberwachung, Bestimmung des Brechungsindex, dielektrische Funktionen und Oberflächenreaktivitätsmessungen. FE-VII ist ein spektroskopisches Ellipsometer aus einer Hand, das eine interferometrische Lichtquelle und einen Flächenstrahlteiler enthält. Die interferometrische Lichtquelle ermöglicht es dem System, sowohl spektrale Winkel als auch Intensitäten zu messen und so hochgenaue und wiederholbare Messungen zu erzeugen. Der Flächenstrahlteiler hingegen ermöglicht es der Einheit, sowohl die s- als auch die p-polarisierten Lichtfelder zu messen. Dies wird durch die Kombination eines polarisationserhaltenden Strahlteilers und eines einstellbaren Analysators ermöglicht. RUDOLPH FE-VII verfügt auch über REFLEX OMS-Analyse und Quasi-Optik-Module. Das REFLEX OMS-Modul ermöglicht es Benutzern, Informationen über mehrschichtige Dünnschichtsysteme wie optisch anisotrope Materialien, inhomogene Schichten und vergrabene Schnittstellen zu erhalten. Inzwischen bietet das Quasi-Optics-Modul Nahfeld-Ofenmessungen, die für messtechnische Felder wie 3D-Nanostrukturen nützlich sind. Physikalisch besteht FE VII aus einer XYZ-Translationsstufe, einem Probenarm, einem Bauteilschacht und einem Interferometerfenster. Die XYZ-Translationsstufe ermöglicht eine präzise Probenpositionierung und -ausrichtung, während der Probenarm zur Montage und Orientierung der Probe verwendet wird. Der Bauteilschacht beherbergt alle geschlossenen Geräte, die für einen vollständigen Messaufbau erforderlich sind, wie die Module REFLEX OMS und Quasi-Optics. Schließlich bietet das Interferometerfenster direkten Zugriff auf die Probe zur genauen Ausrichtung. Insgesamt ist FEVII eine herausragende Ellipsometermaschine, die überlegene Genauigkeit und Wiederholbarkeit in einem relativ einfachen und kostengünstigen Paket bietet. Es kann für eine Vielzahl von optischen und Materialcharakterisierungsanwendungen verwendet werden und bietet Anwendern die Flexibilität, Projekte anzugehen, mit denen sie konfrontiert sind.