Gebraucht RUDOLPH FE VII #9097170 zu verkaufen

RUDOLPH FE VII ist ein fortschrittliches Ellipsometer, das mittels spektroskopischer Techniken die Art und Weise misst, wie Licht von einer Oberfläche reflektiert und präzise Parameter im Zusammenhang mit optischen Eigenschaften berechnet. Das Instrument kombiniert ein UV-sichtbares Spektrometer, ein Polarimeter und eine Probenstufe mit variablem Winkel, um den Brechungsindex, die Filmdicke, die Filmspannung und andere optische Eigenschaften verschiedener Materialoberflächen zu messen. Mit Hilfe einer doppelt rotierenden Kompensatorplatte wird Licht polarisiert und unter verschiedenen Winkeln zur Probenoberfläche gerichtet, die das Licht mit veränderten Eigenschaften aufgrund seiner optischen Eigenschaften reflektiert. Das Spektrometer sammelt, filtert und misst dann die Intensität des reflektierten Lichts unter mehreren Winkeln und Wellenlängen. Diese Daten werden zur Berechnung der optischen Eigenschaften der Probe verwendet. Hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit sind kritische Merkmale von RUDOLPH FEVII. Das Instrument verwendet eine fortgeschrittene motorisierte Probenstufe, die den einfallenden Strahl senkrecht zur Probenoberfläche zu jeder Zeit hält. Das druckgesteuerte System sorgt auch dafür, dass keine Bewegung der Probe im Betrieb auftritt, was zu präzisen Messungen mit einer Wiederholbarkeit von 0,2 nm und einer besseren Gesamtgenauigkeit führt. FE-VII ist zudem mit einem leistungsstarken Datenanalysepaket zur vereinfachten Datenmanipulation ausgestattet. Die Software ermöglicht eine schnelle und einfache Messergebnisanalyse, wobei Daten für zukünftige Analysen in externen Anwendungen noch im Rohtextformat gespeichert werden. Spezialpakete stehen auch für die Phasenmessungsanalyse unter Berücksichtigung der Probenfilmgeometrie sowie Spannung und Brechungsindex zur Verfügung. RUDOLPH FE-VII eignet sich für eine Vielzahl von optischen und Dünnschichtanwendungen, einschließlich Messtechnik, Optikdesign, Forschung und Entwicklung, industrielle Fertigung, Qualitätskontrolle und Umweltüberwachung. Es ist auch ausgestattet, um eine ganze Reihe von dünnen Filmen von Atomschichten bis Millimeter zu messen. Sein fortschrittliches Design und seine Eigenschaften sorgen für robuste und präzise Bauteil- und Produktmessungen.