Gebraucht RUDOLPH FE VII #9161281 zu verkaufen

RUDOLPH FE VII ist ein anspruchsvolles und präzises Ellipsometer von RUDOLPH Technologies, Inc., das zur Messung der elektronischen und optischen Eigenschaften von dünnen Filmen und Oberflächen verwendet wird. Seine sieben (7) verschiedenen Konfigurationen können einen breiten Bereich von Parametern messen, wie Dicke, Brechungsindex, Extinktionskoeffizient, Oberflächenrauhigkeit, Widerstand, Bandlücke und optische Konstanten von dünnen Filmen. Das Instrument umfasst einen einstellbaren Probenarm, einen hochempfindlichen Detektor und eine Festkörperlaserdiode mit einem Wellenlängenbereich von 200 bis 800 nm. RUDOLPH FEVII verwendet ein optisches System mit einem Goniometer, um die optischen Eigenschaften einer Probe zu messen. Das Goniometer dreht den Lichtstrahl von der Probe zu zwei Detektoren, die bei 90 Grad zueinander angeordnet sind, was eine genaue und genaue Bestimmung der optischen Parameter der Probe ermöglicht. Dem System kann ein zusätzliches Polarisationszubehör zur Messung polarisationsbasierter optischer Parameter hinzugefügt werden. Das Gerät ist mit verschiedenen Messmethoden vorprogrammiert und somit ideal für eine Reihe von Materialcharakterisierungsaufgaben. Es bietet eine intuitive, benutzerfreundliche Oberfläche mit einem separaten Datensteuerungsfenster, die eine einfache Bedienung und reibungslose Bedienung ermöglicht. Das Instrument verfügt zudem über eine leistungsstarke und dennoch flexible Datenverarbeitungs- und Analysesoftware, mit der Anwender Daten schnell verarbeiten, Probleme und Trends identifizieren und Berichte erstellen können. FE-VII ist in der Lage, Filme mit Dicken von 0,2 nm bis 1000 nm und Brechungsindexwerte bis 4,0 zu messen. Das Instrument kann auch mit einem Stehwellen-Zubehör ausgebildet sein, um einen Bereich von Filmdicken bis zu 6.000nm sowie eine breite Palette von anderen optischen Parametern wie Widerstand, Bandlückenenergien, Dielektrizitätskonstanten, optischen Konstanten, Oberflächenrauhigkeit und dem Brechungs- und Extinktionskoeffizienten zu messen. Insgesamt ist FEVII ein fortschrittliches, robustes und vielseitiges Ellipsometer, das sich perfekt für eine Reihe von Werkstoffcharakterisierungsprozessen eignet. Seine vorprogrammierten Funktionen machen es einfach, für die anspruchsvollsten technischen Anwendungen zu verwenden, während seine leistungsfähige Software es Benutzern ermöglicht, Daten schnell zu verarbeiten und zu analysieren. Dies macht es zu einer idealen Wahl für Forscher und Materialwissenschaftler gleichermaßen.