Gebraucht RUDOLPH FE VII #9355413 zu verkaufen

Hersteller
RUDOLPH
Modell
FE VII
ID: 9355413
Wafergröße: 6"
Film thickness measurement system, 6".
RUDOLPH FE VII ist ein hochpräzises, automatisiertes optisches Ellipsometer, das speziell für die Messung von anorganischen und organischen Materialien mit Dicken zwischen 0,1 und 1000 μ m entwickelt wurde. Mit den Prinzipien der Multistrahl-Interferenz und Ellipsometrie ist das Gerät in der Lage, ultradünne Filme und andere Mikrostrukturen mit Sub-Mikrometer-Genauigkeit zu messen. RUDOLPH FEVII ist mit einem fortschrittlichen Phasenmodulator und einem einstellbaren Polarisationselement ausgestattet, mit dem das System Materialien mit unterschiedlicher Dicke und optischen Eigenschaften messen kann. Der modulare Aufbau ermöglicht es, FE-VII so anzupassen, dass es zur Analyse einer Vielzahl von Proben verwendet werden kann, einschließlich Polarisierbarkeit, Dielektrizitätskonstanten, Doppelbrechung, Spannung und Folienabscheidungen. FEVII verfügt über ein integriertes Spektrometer für Authentifizierungszwecke, das die Bestätigung der optischen Eigenschaften von Materialien ermöglicht. Das Gerät enthält auch einen hochauflösenden Monitor mit Echtzeitmessungen und Daten aus Experimenten. Die Touchscreen-Benutzeroberfläche ermöglicht eine schnelle und einfache Bedienung und ist somit ideal für experimentelle und Forschungsanwendungen geeignet. RUDOLPH FE-VII verfügt über eine breite Palette von Funktionen und Funktionen, die für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet sind. Diese Merkmale umfassen: ultrapräzise mechanische Aktuatoren zur Einstellung von Polarisatoren und Probengeometrie; Submikrometermessungen mit Bestätigungen; Datenabtastgeschwindigkeiten von bis zu 15 kHz; und eine eingebaute Verarbeitungseinheit, die bis zu 15.000 Messdateien speichern kann. Darüber hinaus ist die Maschine auch in der Lage, eine Vielzahl von optischen Materialien und Chemikalien zu messen, einschließlich Metalle, Dielektrika und Keramik. FE VII bietet eine schnelle, zuverlässige und genaue Möglichkeit, die optischen Eigenschaften von Materialien zu messen. Das Werkzeug ist weit verbreitet in der Forschung und Entwicklung von neuen Materialien und Produkten, sowie für die Qualitätskontrolle in der Produktion von bestehenden Materialien und Produkten. Dadurch wird es üblicherweise für Anwendungen wie Halbleiterschichtdickenmessungen, Geräteprüfung und -charakterisierung und Ultradünnschichtabscheidung verwendet. Für zusätzlichen Komfort ist RUDOLPH FE VII kompatibel mit der Robolift-Familie automatisierter Probenladesysteme. Diese Systeme ermöglichen den Fernbetrieb der Anlage und bieten eine kostengünstige und zuverlässige Alternative zur manuellen Probenbeladung. Darüber hinaus ist das Modell auch mit dem Robomaker-Softwarepaket kompatibel, mit dem fortschrittliche Mess- und Prozessanwendungen automatisiert werden können.
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