Gebraucht RUDOLPH FE VII #9397723 zu verkaufen

RUDOLPH FE VII
Hersteller
RUDOLPH
Modell
FE VII
ID: 9397723
Film thickness measurement system, parts machine Open handler, 8".
RUDOLPH FE VII ist ein fortschrittliches Ellipsometer für präzise Messungen von optischen Dünnschichteigenschaften. Ein Ellipsometer, wie RUDOLPH FEVII, arbeitet, indem gleichzeitig die Phase und Amplitude des von der Oberfläche einer Probe reflektierten Lichts, in der Regel Film oder Beschichtung, gemessen wird. Durch Messung der Intensität und Polarisation des reflektierten Lichts kann FE-VII die optischen Eigenschaften von Filmen und Beschichtungen bestimmen, einschließlich Dicke, Brechungsindex und Extinktionskoeffizient. FEVII verfügt über ein hochauflösendes bildgebendes Ellipsometer und einen digitalen Scan-Controller, der es ermöglicht, Filme bis zu einer Dicke von 50 nm genau zu messen. Das Ellipsometer ist auch für kundenspezifische Filmanwendungen konfigurierbar und kann auf alle gängigen Polarisationszustände mit bis zu vier Detektoren pro Zustand eingestellt werden. Es ist auch in der Lage, bis zu zehn Wellenlängen gleichzeitig auszuwählen, was es zu einem nützlichen Werkzeug für wellenlängenabhängige Messungen macht. Neben der hohen Genauigkeit ist RUDOLPH FE-VII in der Lage, schnelle Scangeschwindigkeiten mit einer Abtastgeschwindigkeit von 1000 Messungen/Sekunde zu erreichen. Dies hilft, Testzeiten zu verkürzen und dennoch genaue Ergebnisse zu liefern. Das System enthält außerdem einen 8-Bit, 356 x 262 Pixel gekühlten CCD-Array-Detektor mit einem Rauschpegel von 0,05% und ein Lattenspiegel-Zubehör für eine Winkelauflösung von bis zu 0,2 °. Die analytischen Fähigkeiten von FE VII werden durch die eingebaute SUNYSide® -Software verbessert, die eine narrensichere Bedienung und automatisierte Datenverarbeitung für komplexe Filme ermöglicht. Es ermöglicht auch eine breite Palette von Datenanalysen, wie Kurvenanpassung, Wellenlängenfilterung und TFCalc Echtzeitberechnungen. Insgesamt ist RUDOLPH FE VII ein extrem genaues und zuverlässiges Ellipsometer, das in der Lage ist, eine Vielzahl von optischen Dünnschichteigenschaften zu messen, was es zu einer idealen Wahl für Anwendungen macht, die Präzision und Geschwindigkeit erfordern.
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