Gebraucht RUDOLPH NIR 3 #9109130 zu verkaufen

RUDOLPH NIR 3 ist ein fortschrittliches spektroskopisches Ellipsometer zur präzisen Messung der optischen Eigenschaften dünner Filme, Oberflächen und Halbleitermaterialien. Das System besteht aus drei Hauptkomponenten: einem optischen Kopf, einem Elektronikmodul und einer Computerschnittstelle. Der optische Kopf besteht aus einem Monochromator, einer Probenstufe, einem Polarisator und Analysator sowie einem Detektionssystem. Der Monochromator ist ein Gerät, das Filter und Gitter verwendet, um einen engen Wellenlängenbereich von sichtbarem Licht zu erzeugen. Die Probenstufe hält die Probe und ermöglicht eine präzise Winkeleinstellung für die Polarisationsmessung. Polarisator und Analysator sind optische Filter, die die Polarisation des Lichts steuern. Das Detektionssystem misst die optischen Eigenschaften der Probe, wie Intensität und Polarisationsrichtung des Lichts unter unterschiedlichen Winkeln. Das Elektronikmodul ist für die Steuerung der Probenstufe, des Polarisators und Analysators und des Wellenlängenbereichs des Monochromators zuständig. Er empfängt Daten vom optischen Kopf und sendet sie zur Analyse an die Computerschnittstelle. Die Computerschnittstelle ist der Ort, an dem der Benutzer die Messungen einrichtet und durchführt. Er ist über einen USB- oder Ethernet-Anschluss mit dem Optikkopf verbunden. Der Benutzer kann die Probenstufe, den Polarisator und den Analysator sowie die Länge des Wellenlängenbereichs steuern. Die Software wurde entwickelt, um optische Parameter aus den vom optischen Kopf empfangenen Daten genau zu interpretieren und Berichte über die optischen Eigenschaften der Probe zu erstellen. RUDOLPH NIR-3 ist ein unschätzbares Werkzeug zur Materialcharakterisierung und kann präzise und konsistente Messungen auf einer Vielzahl von Oberflächen und Materialien liefern. Es wird in vielen Branchen verwendet, wie Elektronik, Optik, fortschrittliche Materialien und Halbleiter. Sie eignet sich insbesondere zur Messung der Dicke dünner Filme und der optischen Eigenschaften von Halbleitermaterialien.