Gebraucht RUDOLPH NIR 3 #9199611 zu verkaufen

Hersteller
RUDOLPH
Modell
NIR 3
ID: 9199611
Weinlese: 1995
Ellipsometer 1995 vintage.
RUDOLPH NIR 3 ist ein Ellipsometer zur Messung der Dicke und optischen Konstanten von Mehrschichtfolien. Es verfügt über verbesserte Funktionen im Vergleich zur vorherigen Version (RUDOLPH NIR 2), die einen neuen NIR-Detektor (Near Infrared), einen verbesserten Messbereich und eine erhöhte Genauigkeit umfassen. RUDOLPH NIR-3 verwendet einen gepulsten Laserstrahl, bestehend aus Lichtwellen mit einer vorbestimmten Wellenlänge, die auf die Probe gerichtet ist. Das Licht wirkt dann mit der Probenoberfläche zusammen und wird zum Teil zur Analyse in Richtung Detektor zurückreflektiert. Das Instrument misst die Polarisationsänderung des einfallenden Lichts und den Winkel des reflektierten Lichtstrahls, der aufgrund der unterschiedlichen Dicke und optischen Konstanten der Mehrschichtfolien auftritt. Aus der gemessenen Polarisation und dem gemessenen Winkel können die optischen Parameter - die das Material charakterisierenden optischen Eigenschaften - bestimmt werden. Auf diese Weise können die Dicke und die optischen Konstanten der Folien auf eine beispiellose Genauigkeit bestimmt werden. Das Gerät hat einen großen Messbereich und kann sowohl die Dicke als auch die optische Konstante von bis zu 14 Schichten dielektrischer oder metallischer Proben mit sehr hoher Genauigkeit und sehr geringer Unsicherheit messen. Es kann bis zu 2000 Ångström in der Dicke messen und es kann verwendet werden, um Filme in der Dicke von 1nm bis 300µm zu analysieren. Die Benutzeroberflächensoftware von NIR 3 wurde für eine einfache Bedienung entwickelt und umfasst erweiterte Funktionen wie automatisierte Batch-Messungen, anpassbare Berichtvorlagen und grafische Datendisplays. Kurz gesagt, NIR-3 ist ein fortschrittliches Ellipsometer, das genaue Messungen der Dicke und optischen Konstanten von Proben mit sehr hoher Genauigkeit liefert. Es hat einen großen Messbereich und ist einfach zu bedienen. Dies macht es eine große Wahl für die Charakterisierung von Filmen in einer Vielzahl von Forschung und industriellen Anwendungen.
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