Gebraucht RUDOLPH S3000A #9311178 zu verkaufen

RUDOLPH S3000A Ellipsometer ist ein nichtinvasives, optoelektronisches Instrument zur Messung von Dicke, Brechungsindex, optischen Konstanten und anderen Materialeigenschaften dünner Filme. Seine Hauptfunktion besteht darin, eine hochgenaue Beschreibung der Oberflächenschicht einer Probe bereitzustellen. Das Ellipsometer misst die Veränderungen der Lichtintensität, die entlang eines polarisierten Strahls auftreten, wenn es von der Probenoberflächenschicht reflektiert wird. Die reflektierte Intensität wird unter verschiedenen Winkeln gemessen und die reflektierten Lichtdaten dann mit einer eigenen Software-Suite verarbeitet, um Oberflächenschichtdicke, Brechungsindex, optische Konstanten und andere Materialeigenschaften zu bestimmen. RUDOLPH S 3000 A nutzt eine Wellenlänge von 532 nm und ist in eine ununterbrochene 360 ° XYZ Messstufe integriert. Dies ermöglicht die Abbildung mit bis zu 24 Relais, um die Dicke, Gleichmäßigkeit und Brechungsindex vieler verschiedener Probentypen zu bestimmen. Die hochauflösende Bildaufnahmekamera erleichtert die Ausrichtung und Oberflächenoxidschichtabbildung. Die einfache Benutzeroberfläche ermöglicht eine routinemäßige Prozesssteuerung und Qualitätsüberwachung. S3000A verfügt über eine Brechungsindex- und Schichtdicke-Genauigkeit von 3nm bzw. 3mrad. Diese extreme Genauigkeit macht S 3000 A zu einem wünschenswerten Instrument für viele Anwendungen wie Dünnschichtabscheidungsüberprüfung, optische Filtercharakterisierung, Halbleiterfilmentwicklung und viele andere vielfältige Forschungsgebiete. Über die standardmäßigen Barebone-Fähigkeiten hinaus bietet RUDOLPH S3000A zusätzliche Optionen zur Optimierung und Feinabstimmung der Ausrichtung und des Betriebs des Instruments. Es enthält auch eine Reihe von maßgeschneiderten Softwarelösungen und Anwendungen, die alle Vorgänge und Anforderungen unterstützen. Zusammenfassend stellt das RUDOLPH S 3000 A Ellipsometer ein hochgenaues und vielseitiges Instrument zur Messung der zweiten Probenschicht dar. Die integrierte Benutzeroberfläche und die maßgeschneiderte Software-Suite machen es zu einer ausgezeichneten Wahl für jede Forschungsumgebung, in der Genauigkeit und Wiederholbarkeit bei der Messung von Dünnschichtmaterialien von größter Bedeutung sind.