Gebraucht RUDOLPH S3000A #9389601 zu verkaufen

RUDOLPH S3000A Ellipsometer ist ein automatisiertes, computergesteuertes optisches Instrument zur Messung der Dicke, optischen Konstanten und Beanspruchung dünner Filme. Es kann auch verwendet werden, um die Brechungsindizes von Filmen zu berechnen. RUDOLPH S 3000 A Ellipsometer kann Proben aus einer Vielzahl von Substraten wie organische und anorganische Filme auf Glas, Metall, Keramik oder anderen Oberflächen messen. S3000A verwendet spektroskopische Ellipsometrie, eine Technik, die Änderungen in der Polarisation des von einer Probenoberfläche reflektierten Lichts misst. Das spektroskopische Ellipsometer verwendet eine breitbandige Lichtquelle und einen Gittermonochromator, um einen weiten Wellenlängenbereich vom sichtbaren bis zum Infrarot zu messen. S 3000 A verwendet auch einen sichtbaren rotierenden Kompensator, um einfallende und reflektierte Lichtsignale zu messen. Der sichtbare Rotator appliziert auftreffendes elliptisch polarisiertes Licht auf eine Probenoberfläche und misst die Polarisationsänderung des reflektierten Lichts. Der Kompensator wird von einem Winkelgeber gesteuert, der den Drehwinkel überwacht und Fehler (verursacht durch Umgebungsänderungen oder Temperaturschwankungen) kompensiert. RUDOLPH S3000A kann eine Reihe von Parametern messen, einschließlich Schichtdicken, optische Konstanten, Spannung, optische Anisotropie (Neigungs- und Azimutwinkel) und Brechungsindizes. Das System ist für Kartierungsstudien ausgestattet, mit denen mehrere Punkte gleichzeitig gemessen und analysiert werden können. RUDOLPH S 3000 A kann auch eine Reihe von Probengrößen messen, von mikro- und nanoskalierten Proben, die so klein wie 50 Nanometer sind. S3000A nutzt auch eine intuitive Benutzeroberfläche, die mit einer breiten Palette von Windows-Betriebssystemen kompatibel ist. Diese Benutzeroberfläche umfasst ein Online-Hilfesystem, das Benutzer bei der Maßeinrichtung, Datenerfassung und Datenanalyse unterstützt. Darüber hinaus verfügt das System über eine Bibliothek mit über 100 Dünnschichtmodellen, so dass die Analyse von Probendaten einfach ist. Insgesamt ist S 3000 A Ellipsometer ein automatisiertes, computergesteuertes Instrument, das Anwendern genaue Messungen der Filmdicke, optischen Konstanten, Spannungen und Brechungsindizes bietet. Seine intuitive Benutzeroberfläche und die Fähigkeit, mehrere Probenpunkte gleichzeitig zu messen, machen es zu einer idealen Wahl für diejenigen, die dünne Filme studieren möchten.