Gebraucht RUDOLPH S3000S #293750720 zu verkaufen

Hersteller
RUDOLPH
Modell
S3000S
ID: 293750720
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2011
Film thickness measurement system, 12" S-Series Vanguard II FOUP CIM: E84, SECS/GEM, GEM300 Missing parts: SiOx Reference chip assembly (4) Exhaust components LAIP Shelf 2011 vintage.
RUDOLPH S3000S Ellipsometer ist ein fortschrittliches Instrument, das speziell entwickelt wurde, um dünne Filme in einem Bereich unterschiedlicher Wellenlängen zu messen und zu charakterisieren. Es verwendet die Technik der Ellipsometrie, um die optischen Eigenschaften von dünnen Filmen mit beispielloser Genauigkeit zu messen. Das Ellipsometer führt einen einfallenden Lichtstrahl aus dem Probenfilm und misst dessen Polarisationsänderung. Er misst mit dieser Information die Schichtdicke, seinen Brechungsindex und seine optische Konstante. Es arbeitet in vier verschiedenen Wellenlängenbereichen - sichtbaren, nahen Infrarot-, mittleren Infrarot- und tiefen Ultraviolettbereichen -, um die vollständigste und genaueste Charakterisierung eines verfügbaren Probenfilms zu erzeugen. Das Instrument hat ein einzigartiges optisches Design, mit einem patentierten polarisierenden Strahlteilerwürfel, zwei Flüssigkristall-Display-Polarisatoren und Detektor-Arrays. Dieses Design ermöglicht es dem Benutzer, die maximale Lichtintensität in jeder Wellenlänge zu erfassen, was eine hohe Genauigkeit auch bei Nanometerdicken bietet. Das Gerät kann auch die Temperatur mit Sensoren und einem integrierten Lufttemperaturdetektor messen, wodurch thermische Verschiebungen korrigiert werden können. Darüber hinaus wird die Leistung des RUDOLPH S 3000 S Ellipsometers durch eine Reihe anspruchsvoller Software-Tools ergänzt. Diese Werkzeuge ermöglichen eine Vielzahl von Analysen und Simulationen, mit denen die genauesten Schätzungen der Filmparameter vorgenommen werden können. Die Software ermöglicht es Benutzern auch, ihre Ergebnisse mit theoretischen Vorhersagen zu vergleichen und dem Benutzer größtmögliches Vertrauen in seine Ergebnisse zu geben. Abschließend ist S3000S Ellipsometer ein fortschrittliches Instrument, das dünne Filme bei mehreren Wellenlängen mit bemerkenswerter Genauigkeit messen und charakterisieren soll. Das einzigartige optische Design und die Reihe anspruchsvoller Software-Tools machen es zu einem leistungsstarken Analyse- und Charakterisierungswerkzeug für jedes Labor.
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