Gebraucht RUDOLPH S3000S #293778028 zu verkaufen

Hersteller
RUDOLPH
Modell
S3000S
ID: 293778028
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2011
Film thickness measurement system, 12" 2011 vintage.
RUDOLPH S3000S ist ein fortschrittliches Ellipsometer, das für hochwertige, genaue Messungen von Dünnschichtstrukturen in einer Vielzahl von Industrie- und Forschungsanwendungen entwickelt wurde. Dieses Instrument ist in der Lage, optische Reflexions- und Brechungseigenschaften der Probe bei einer einzigen Wellenlänge oder mehreren Wellenlängen für weitere Genauigkeit zu messen. RUDOLPH S 3000 S verfügt über eine automatisierte optische Ausrichtung, die präzise und konsistente Ergebnisse gewährleistet. Das Gerät ist mit einem Doppelwellenlängen-Monochromator ausgestattet, der es ermöglicht, optische Eigenschaften von dünnen Filmen in einem breiten Wellenlängenbereich von 190 bis 850 nm zu messen. Es ist auch mit einem computergesteuerten, einstellbaren Messgitter ausgestattet, das es dem Bediener ermöglicht, die Probe genau zu positionieren und die ellipsometrischen Parameter für jede Wellenlänge zu positionieren. Zusätzlich verfügt S3000S über ein Farb-Touchscreen-LCD-Display für einfache Bedienung. Das Gerät ist mit einer Vielzahl von Zubehörteilen ausgestattet, die seine Reichweite und Genauigkeit erhöhen, einschließlich eines Polarimetrie-Zubehörs, einer Probenstufe und eines Datenerfassungssystems. Dieses Zubehör ermöglicht es dem Anwender, präzise Messungen über eine breite Palette von Dünnschichtstrukturen wie Einzelschichten, Mehrfachschichten, dielektrischen Stapeln und Metallfolien vorzunehmen. S 3000 S ist einfach zu bedienen und erfordert minimale Rüstzeit. Das Gerät verfügt über eine umfassende Bedienungsanleitung und interaktive Software zur Datenanalyse. Darüber hinaus verfügt die Maschine über eine schnelle Datenübertragungszeit und ermöglicht es dem Benutzer, Daten in verschiedenen Formaten zur weiteren Analyse herunterzuladen. Insgesamt ist RUDOLPH S3000S ein fortschrittliches und vielseitiges Ellipsometer für die hochpräzise Messung von Dünnschichtstrukturen. Das Instrument verfügt über eine fortschrittliche Optik und eine automatisierte optische Ausrichtung für präzise und konsistente Ergebnisse und ist mit einer Vielzahl von Zubehörteilen für erhöhte Genauigkeit und Reichweite ausgestattet. Das Tool ist einfach zu bedienen und erfordert minimale Rüstzeit und beinhaltet eine umfassende Bedienungsanleitung und Software zur Datenanalyse.
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