Gebraucht RUDOLPH S3000S #9389600 zu verkaufen

RUDOLPH S3000S industrielles Ellipsometer ist ein präzises Messgerät zur Charakterisierung der Filmeigenschaften von Halbleitermaterialien. RUDOLPH S 3000 S wurde nach anspruchsvollen Anwendungen in der Halbleiterindustrie gebaut und verfügt über hoch integrierte Software- und Hardwareoptionen, um spezifischen Kundenanforderungen gerecht zu werden. Mit der einzigartigen Software-Suite Agilis Pro 3 und Agilis Core 7 bietet S3000S eine Reihe von Datenerfassungs- und Analysemodulen, die für eine Vielzahl von Forschungs- und Entwicklungsanwendungen verwendet werden können. S 3000 S liefert präzise, genaue und wiederholbare Messungen auf einer breiten Palette von Materialien. Seine patentierte Dual-Beam-Technologie ermöglicht es dem Ellipsometer, mehrere Schichten in derselben Probe oder einer einzigen Probenoberfläche zu messen, und es bietet ein hohes Signal-Rausch-Verhältnis für eine bessere Analyse. Das Ellipsometer ist dank seiner intuitiven grafischen Benutzeroberfläche einfach zu bedienen. Es ermöglicht es Benutzern, schnell Beispielparameter, Kalibrierungseinstellungen und Messbereiche einzurichten. Es bietet auch eine Vielzahl von Software-Anwendungen, wie Echtzeit-Anzeige der Film-Stack-Struktur, Plotten von ellipsometrischen Kurven, Layer-by-Layer-Analyse und Vergleich von Kurven. RUDOLPH S3000S Ellipsometer bietet eine Option für den Betrieb bei Raumtemperatur sowie die Möglichkeit, in einem weiten Temperaturbereich von -10 ° C bis + 90 ° C zu messen, was eine schnellere Foliencharakterisierung ermöglicht. Auf RUDOLPH S 3000 S steht eine Auswahl von Foliencharakterisierungsparametern zur Verfügung, darunter polarimetrische Parameter wie Gamma und Delta, optische Konstanten (Brechungsindex und Extinktionskoeffizient) sowie Schichtdicken und Konzentrationen mehrerer Komponenten. S3000S Ellipsometer ist unglaublich effizient, mit einer Zykluszeit von bis zu 7 Sekunden. Die hohen Geschwindigkeiten von S 3000 S ermöglichen schnellere Tests und kundenspezifische Filmstapelmodellierung. Für Sauberkeit und Genauigkeit ist RUDOLPH S3000S mit einer Halbleiteroptik ausgestattet, die für Mehrschichtfolien und Mehrpunktanalysen ausgelegt ist. Insgesamt ist das industrielle Ellipsometer RUDOLPH S 3000 S ein ideales Werkzeug für Forschungs- und Entwicklungslabore in der Halbleiterindustrie und bietet die perfekte Mischung aus Genauigkeit, Geschwindigkeit und Wert. Es bietet eine breite Palette von Anwendungen, und die hoch integrierte Software ist sicher, dass jeder Benutzer eine zuverlässige und wiederholbare Messung zu geben.