Gebraucht RUDOLPH S3000S #9393060 zu verkaufen

RUDOLPH S3000S Ellipsometer ist ein leistungsstarkes, präzises Werkzeug zur Messung der optischen Eigenschaften dünner Materialien. Das System ermöglicht die Bestimmung von Dicke, Brechungsindex und Extinktionskoeffizient von Materialien mit einem Dickenbereich von 1 nm bis 10000 nm. RUDOLPH S 3000 S verwendet das Prinzip der ellipsometrischen Messung, das eine Charakterisierung der optischen Konstanten des Materials durch Messung der ellipsometrischen Parameter und Analyse der Oberflächenfilmdicke und seiner chemischen Zusammensetzungen ermöglicht. Das Instrument besitzt eine hohe Genauigkeit von weniger als 0,2 ° polarimetrische Genauigkeit, zusammen mit einem Spektralbereich von 200 nm bis 1000 nm. Dieser Bereich ist in 16 feste Laser von 250 nm bis 800 nm mit 0,5 nm Inkrementen unterteilt, zusammen mit der zusätzlichen Option der vollspektralen Abdeckung von 200 nm bis 1000 nm. Die Einrichtung von S3000S ist einfach und einfach, mit austauschbaren Polarisatoren in der Probenkammer, optionalen Linsen zur Erhöhung der Spotgröße und einer LED-Lichtquelle. Das Gerät verfügt außerdem über eine Acht-Positionen-Probenstufe mit Peltier-Kühlung und -Heizung als Temperaturen von bis zu 200 ° C erreichen kann, mit einer optional austauschbaren Linse zur Messung dicker Schichten. Zur Datenanalyse kann RUDOLPH Software oder andere benutzerdefinierte Software verwendet werden. Einige der Eigenschaften von S 3000 S machen es für bestimmte Anwendungen besonders geeignet. Seine ultrahohe Auflösung kann verwendet werden, um photovoltaische Materialien zu untersuchen, sein breiter Spektralbereich kann für dielektrische und Halbleitermaterialien verwendet werden und seine hohe Genauigkeit für optische Dünnschichten. Abschließend ist RUDOLPH S3000S ein vielseitiges Werkzeug zur Messung optischer Eigenschaften von Materialien mit bemerkenswerter Präzision. Seine Genauigkeit, Reichweite, Probenstufe und die Fähigkeit, die Daten mit kundenspezifischer Software zu analysieren, machen es zu einem äußerst wertvollen Instrument für die fortschrittliche Forschung und Entwicklung auf dem Gebiet der Photovoltaik und optischen Dünnschichten.