Gebraucht RUDOLPH S3000S #9401466 zu verkaufen
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RUDOLPH S3000S Ellipsometer ist ein hochpräzises, hochauflösendes optisches Ellipsometer für kritische Dünnschicht-Charakterisierungsmessungen. Dieses fortgeschrittene Analysewerkzeug misst die Veränderung der optischen Eigenschaften eines dünnen Films, wenn ein Lichtstrahl von der Probenseite hindurchgeht. Das Ellipsometer misst die Polarisationsänderungswinkel, aus denen dann Informationen über die Schichtdicke, den Brechungsindex und die optische Anisotropie erzeugt werden. Das RUDOLPH S 3000 S Ellipsometer ist mit einer drehbaren Probenstufe und einer vierkanaligen Wellenlängenauswahl ausgestattet, die ein leistungsstarkes Werkzeug zur Messung anspruchsvoller Proben kombiniert. Die drehbare Probenstufe ermöglicht die Durchführung von winkelabweichenden Messungen. Wellenlängen können aus den Bereichen UV, VIS, NIR (Near infrared) und MIR (Mid infrared) ausgewählt werden, die dann gleichzeitig innerhalb S3000S Differentialanalysators ausgelesen werden können. Der Dual-Viewing-Port erlaubt auch simultane Messungen von Transmission und Reflexion bzw. Transmissions- und Polarisationsmessungen. S 3000 S ist sehr kompatibel mit vielen verschiedenen Steuerungs- und Isolationssystemen und ermöglicht seinen Einsatz in einer Vielzahl von Umgebungen. Seine motorisierte Optik ermöglicht eine einfache Ausrichtung sowohl in der horizontalen als auch in der vertikalen Ebene, um die Probenuntersuchung zu optimieren. Das Instrument ist auch wartungsfreundlich und benutzerfreundlich, was eine einfache Wartung und Bedienung ermöglicht. RUDOLPH S3000S Ellipsometer ermöglicht es, die dünnsten Filme und anspruchsvollsten Substrate zu bewältigen und bietet so mehr Charakterisierungsmöglichkeiten als andere Ellipsometer. Die schnelle Datenerfassung ermöglicht es Forschern, komplexe Proben mit Geschwindigkeiten von 5 Minuten bis zu mehreren Stunden zu analysieren, abhängig von der Anzahl der ausgewerteten Parameter. RUDOLPH S 3000 S Ellipsometer ist ein unverzichtbares Werkzeug für Forschung, Industrie und akademische Anwendungen und liefert hochgenaue und zuverlässige Ergebnisse für komplexe optische Substrate und Proben.
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