Gebraucht RUDOLPH WaferView 220 #9130026 zu verkaufen

RUDOLPH WaferView 220 Ellipsometer ist ein hochpräzises und genaues Instrument zur Bestimmung der Dicke, Zusammensetzung und optischen Eigenschaften von dünnen Filmen und anderen optisch aktiven Materialien. Es wurde entwickelt, um Änderungen an optischen Konstanten zu messen, die weniger als 1 Prozent bei gleichbleibend hoher Auflösung betragen. WaferView 220 hat einen modularen Aufbau, der eine einfache Integration in andere Laborgeräte sowie ein integriertes Softwarepaket ermöglicht, um die Analyse zu optimieren und detaillierte, zuverlässige Daten bereitzustellen. RUDOLPH WaferView 220 verwendet eine patentierte patentierte WaferView Image Acquisition Equipment (VIAS), um Bilder einer Probenoberfläche auf submikroskopischer Ebene zu erfassen. Diese hochdetaillierten Bilder werden dann digital analysiert, um Informationen über Größe, Form, Brechungsindex, Schichtdicke, Zusammensetzung und Struktur der Probe zu liefern. Dieses Verfahren ermöglicht extrem genaue Messungen, bis hin zu einer Protonenschicht in der Dicke. WaferView 220 ist mit einer computergesteuerten Stufe ausgestattet, die es dem Benutzer ermöglicht, die Probe während der Analyse in einem beliebigen Winkel zu drehen und zu positionieren. Es verfügt auch über ein modernes vertikales spektrales Bildgebungssystem (VSI), das präzise Messungen der Probe über einen Wellenlängenbereich vom Ultraviolett bis zum nahen Infrarot erfasst. Dieses Gerät wurde entwickelt, um genaue und konsistente Daten auch bei der Messung sehr dünner Filme bereitzustellen. RUDOLPH WaferView 220 kann für eine Reihe von Experimenten und Anwendungen verwendet werden, einschließlich der Messung von Folienqualität und -dicke; Bestimmen von dielektrischen und optischen Konstanten; Charakterisieren von Halbleiteroberflächen; und Messen des optischen Verhaltens von Beschichtungen, Filmen und Schichtmedien. Es eignet sich auch für den Einsatz in der Halbleiter-, Optik-, Dünnschicht- oder sonstigen Anwendungen, bei denen die Fähigkeit zur Messung minutenlanger Variationen der optischen Eigenschaften wichtig ist. WaferView 220 ist eine intuitive und leistungsstarke Maschine mit einer Reihe von Funktionen und Fähigkeiten, die es Forschern und Wissenschaftlern ermöglicht, die optischen Eigenschaften von dünnen Filmen und anderen optisch aktiven Materialien schnell und genau zu messen. Es liefert präzise, zuverlässige Datenanalyse und ist ein wesentlicher Bestandteil jedes Labors, Forschungszentrums oder Produktionsstätte.