Gebraucht SEMILAB GES-5E #9239630 zu verkaufen

SEMILAB GES-5E Ellipsometer ist ein vielseitiges und präzises Instrument zur Messung der optischen Eigenschaften von Folien und Schnittstellen mit einer Vielzahl von Materialien. SEMILAB GES5E bietet eine einzigartig zugeschnittene Kombination von Parametern zur Anpassung an eine Vielzahl von Aktivitäten von der optischen Charakterisierung von Oberflächen bis hin zu erweiterten Winkelmessungen. Darüber hinaus ist GES-5E mit einer motorisierten Probenstufe mit automatischer Probenpositionierung und einer hochempfindlichen Software für einfache Navigation und Analyse ausgestattet. GES5E verwendet polarisiertes Licht, das von der Probenoberfläche reflektiert wird, um den Reflexions- und Polarisationszustand der Wellen zu messen. Die komplexwertige Menge, gemessen gleichzeitig mit zwei unabhängigen Winkeldetektoren, wird verwendet, um auf eine genaue Darstellung der Parameter des Materials oder der Probe zu schließen. SEMILAB GES-5E bietet einen Winkelbereich von bis zu +/-4,8 Grad, wodurch mehrere Probenmessungen in einem einzigen Winkelbereich möglich sind. Darüber hinaus verfügt diese Vorrichtung über einen hochgenauen Monochromator mit einem Gitter von 512 Nuten/mm, was zu einer spektralen Auflösung von bis zu 0,003 nm pro Schritt führt. Es vereinigt auch eine hohe Geschwindigkeit, die Autofokussystem mit einem motorisierten Kalibrierungsarm reibt, der genauen Fokus liefert, der tote Zonen minimiert. SEMILAB GES5E ist mit der SEMILAB-Software kompatibel und bietet intuitive und leistungsstarke Benutzeroberflächen und Datenanalysefunktionen. Diese benutzerfreundliche und umfassende Software bietet fortschrittliche Tools zur Datenmanipulation (Plotten, mathematische Operatoren usw.), Datenberichterstattung usw. Es enthält auch spezialisierte Algorithmen, die speziell für Ellipsometerdaten entwickelt wurden und Unterstützung für Mueller-Matrix- und Prismenspektroskopiemessungen bieten. Zusammenfassend ist GES-5E Ellipsometer ein zuverlässiges, vielseitiges Werkzeug zur Messung optischer Eigenschaften von Oberflächen und Schnittstellen mit einer Reihe von Materialien. Es wird mit einem Hochleistungsautofokusvergitterungssystem und einer hoch entwickelten Software für die leichte Navigation und Analyse ausgestattet, starke Datenmanipulationsfähigkeiten bietend, Unterstützung und für ellipsometer Daten spezifisch entworfene Spezialalgorithmen meldend.