Gebraucht SEMILAB IR 3100s #9298698 zu verkaufen

SEMILAB IR 3100s ist ein hochmodernes Ellipsometer von SEMILAB, das schnelle und genaue Messungen von Dünnschichtproben ermöglicht. Ellipsometrie ist eine Art Lichtstreuungstechnik, die verwendet wird, um die Dicke und den Brechungsindex von transparenten einheitlichen Filmen im Bereich von Nanometern (nm) bis Hunderte von Nanometern zu bestimmen. IR 3100s Ellipsometer verwendet eine patentierte Interferenz-Reflexionstechnik, um Dünnschichteigenschaften zu untersuchen. Das Instrument basiert auf dem Prinzip der optischen Interferenz und arbeitet mit zwei Lichtstrahlen einer grünen Laserquelle unter Aufzeichnungswinkeln, die nahe dem Brewster-Winkel jedes der untersuchten Materialien liegen. Das durch die beiden Strahlen erzeugte Interferenzmuster wird von einem polarisationsempfindlichen Detektor detektiert, der dann analysiert wird, um Informationen über Dicke und optische Eigenschaften der Folie abzuleiten. Das System ist mit drei Beleuchtungs- und drei Detektionsmodi ausgestattet, die es Anwendern ermöglichen, eine breite Palette von Proben zu analysieren, von Filmen ohne sichtbaren Kontrast zu Monoschichten aus komplexen Materialien wie geschichteten Halbleitermaterialien. Die benutzerfreundliche Software ermöglicht eine automatisierte Analyse, die die Messung einzelner oder mehrerer Proben erleichtert. Darüber hinaus gewährleistet die Live-Anzeige der ellipsometrischen Kurven für jede Probe eine Echtzeitanalyse für jede Messung. SEMILAB IR 3100s Ellipsometer hat eine Wiederholbarkeit von 0,8% und eine Genauigkeit von 0,7%. Es ist ein wertvolles Werkzeug für Qualitätsbewertungs- und Fehleranalyseanwendungen, das eine zerstörungsfreie Messung der optischen Eigenschaften transparenter Folien ermöglicht. Es wird häufig in einer Vielzahl von Branchen verwendet, einschließlich Halbleiter, Optik, optische Beschichtung, Solar- und Flachbildschirme. Das IR 3100s Ellipsometer ist mit einer Vielzahl von Funktionen ausgestattet, darunter automatische Hintergrundsubtraktion, verbesserte USP-Funktionalität, eine integrierte Kalibrierungsfunktion und eine Hochgeschwindigkeits-CCD-Kamera. Die Software bietet eine Reihe von Funktionen zur Analyse verschiedener Probeneigenschaften und ermöglicht es dem Benutzer, reale Proben mit simulierten Ergebnissen zu vergleichen. Dank der Flexibilität und modularen Bauweise des Geräts ist es leicht anpassbar, um alle Forschungs- oder industriellen Anwendungsanforderungen zu erfüllen.