Gebraucht SEMILAB PS 2000 #9244402 zu verkaufen

SEMILAB PS 2000 Ellipsometer ist eine leistungsstarke, multifunktionale Ellipsometrie-Ausrüstung für fortschrittliche Dünnschicht-transparente Beschichtungen. Dieses System ermöglicht eine gleichzeitige Messung der Polarisationsfähigkeit aller drei polarisierten Lichtkomponenten des einfallenden Strahls, wodurch eine genaue Charakterisierung von Probenwinkeln und Charakterisierungen der Probe, die von optischen Eigenschaften ihrer Bestandteile abhängen, ermöglicht wird. Die Einheit kann für eine Vielzahl von Anwendungen verwendet werden, einschließlich Ellipsometrie von dünnen Filmen, Messung von optischen Konstanten, Charakterisierung von diamantähnlichen und nanokristallinen Kohlenstoffdünnfilmen, Messung der Oberflächenmorphologie und Untersuchung von Probeneigenschaften (wie Brechungsindizes und Extinktionskoeffizienten). Die Hardware von PS 2000 besteht aus einem kompakten, einfach zu bedienenden Single-Core-Ellipsometer, das speziell für die gleichzeitige Untersuchung und Charakterisierung von sichtbarem und infrarotem Licht entwickelt wurde. Die Maschine besteht aus einem drehbaren Polarisator, Probe und Detektor, einem Monochromator, einem polarisierenden Strahlteiler und zwei Messarmlängen. Der Polarisator wird von einem Schrittmotor angetrieben, der über eine Mikrocontrollereinheit gesteuert wird. Probe und Detektor sind über eine gekühlte Lichtleitfaser mit Detektoren verbunden, so dass der Benutzer sowohl aus dem sichtbaren als auch aus dem infraroten Bereich simultane spektrale Daten erfassen kann. Um eine hohe Messgenauigkeit zu erreichen, wird ein effizienter stationärer polarisierender Strahlteiler aus zwei Hochleistungslasern verwendet. Der Monochromator, der aus einer Kollimationslinse, einem Dispergierer und einer Abtaststufe besteht, wird von einem Schrittmotor angetrieben und über eine Mikrocontrollereinheit gesteuert. Die mit SEMILAB PS 2000 verbundene Software umfasst eine voll ausgestattete Benutzeroberfläche, den PCL Controller, eine intuitive und leistungsstarke grafische Benutzeroberfläche. Es beinhaltet auch ein hochpräzises Messprogramm, das die Messung entweder des Reflexionsvermögens oder des Einfallswinkels - neu im Bereich der Ellipsometrie - unterstützt. Der PCL Controller steuert die Probe und Messungen automatisch mit vordefinierten ASR- und AMR-Einstellungen, sodass der Benutzer Szenarien für wiederholbare Experimente einfach erstellen und speichern kann. Neben den Standardfunktionen enthält PS 2000 auch eine optionale Werkzeugkalibrierkomponente, die eine intuitive Methode zur Kalibrierung des optischen Elements für die Verwendung im gemessenen Modell bietet. Dieses Verfahren ermöglicht es dem Anwender, das Gerät schnell für präzise und wiederholbare Charakterisierungen einzurichten. Weitere Systemkomponenten sind eine Quelle niedriger Intensität zur Messung der optischen Konstanten, ein flüssiger stickstoffgekühlter Detektor zur schnellen Datenerfassung und eine manuelle Polarisatorkalibrierung. SEMILAB PS 2000 Ellipsometer ist ein leistungsfähiges und zuverlässiges Werkzeug zur Charakterisierung vieler der fortschrittlichen Dünnschicht-transparenten Beschichtungen, die in den heutigen Forschungs- und Entwicklungslabors vorkommen. Sein innovatives Design ermöglicht es dem Anwender, Materialeigenschaften und optische Konstanten schnell und präzise zu charakterisieren. Mit der Fähigkeit, sowohl sichtbare als auch infrarote Lichtpolarisation gleichzeitig zu messen, ist diese Einheit in der Lage, eine detaillierte und umfassende Charakterisierung von Materialien bereitzustellen.