Gebraucht SENTECH SE 400 #9027536 zu verkaufen

SENTECH SE 400 Ellipsometer ist ein hochgenaues und zuverlässiges optisches Gerät zur Oberflächencharakterisierung. Es ist ein komplettes Ellipsometrie- und Reflektometriesystem zur Bestimmung der optischen Eigenschaften von dünnen Filmen und Beschichtungen auf opaken Substraten. SENTECH SE400 kann Oberflächenschichtdicken von bis zu 1000 Angström messen und sowohl dünne als auch komplette Mehrschichtstapel messen. SE 400 verwendet eine einzigartige Dualstrahl-Front reflektierte Polarisationstechnik, um komplexe optische Reaktionen zu analysieren, die mit herkömmlichen Einstrahltechniken nicht möglich sind. Diese fortschrittliche Technologie ermöglicht zuverlässigere Messungen, insbesondere bei hochbrechenden Folien und anspruchsvollen Beschichtungsprofilen. Die benutzerfreundliche grafische Oberfläche von SE400 vereinfacht den Datenerfassungsprozess und ermöglicht eine schnelle Analyse der Ergebnisse. SENTECH SE 400 besteht aus einem Ellipsometerkopf, einer Lichtquelle, einem Probenhalter, einem Signalprozessor und einem Computermonitor. Die Lichtquelle verwendet eine 150-Watt-Lampe und einen HeNe (Helium-Neon) Laser mit einstellbarer Leistungsabgabe für außergewöhnliche Empfindlichkeit. Der Probenhalter ist motorisiert, flexibel und ermöglicht eine einfache Änderung des Einfallswinkels. Der Signalprozessor ist ein fortschrittliches digitales Fourier-Analysesystem, das eine schnelle und genaue Auswertung der Signale ermöglicht. SENTECH SE400 eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungen, darunter Dünnschichtcharakterisierung und -entwicklung, optische Filmüberwachung, Materialentwicklung und Prozesssteuerung. Dieses Instrument eignet sich auch ideal zur Charakterisierung von Oberflächenrauhigkeiten, Metallisierungsschichten und einem breiten Spektrum optischer Beschichtungen. Darüber hinaus eignet sich SE 400 gut für den Einsatz in automatisierten Produktionssystemen und ermöglicht eine schnelle und zuverlässige Qualitätskontrolle und Optimierung. Zusammenfassend ist SE400 Ellipsometer eine leistungsfähige und zuverlässige Lösung zur genauen Messung und Analyse von dünnen Schichten und Substraten. Mit seiner fortschrittlichen Dual-Beam-Technologie, dem flexiblen Probenhalter und der Kompatibilität mit automatisierten Produktionssystemen bietet die SENTECH SE 400 eine kostengünstige und umfassende Lösung zur Messung optischer Eigenschaften.