Gebraucht SENTECH SE 400 #9208990 zu verkaufen

SENTECH SE 400 Ellipsometer ist ein optisches Dünnschichtcharakterisierungswerkzeug zur Messung der optischen Eigenschaften dünner Filme und Oberflächen. Das Instrument ist entworfen, um den Winkel der Polarisationsverschiebung und Elliptizität von polarisiertem monochromatischem Licht zu messen, reflektierend von einer Probenoberfläche. Diese Verschiebung und Elliptizität variieren je nach den optischen Eigenschaften der Probe, wie Dicke, Brechungsindex und relative dielektrische Eigenschaften der Dünnschichten. SENTECH SE400 Ellipsometer ist ein Tischgerät mit kompakter Stellfläche. Es kombiniert Optik, Mechanik, Elektronik und Software, um vielseitige und genaue Analysen von dünnen Schichten wie antireflektierenden und transparenten dielektrischen Beschichtungen zu erstellen. Das Instrument verfügt über einen Hochgeschwindigkeits-Drehkompensator und einen Zwei-Winkel-Ellipsometerkopf, um die für die Charakterisierung selbst komplexester Proben erforderliche Flexibilität zu gewährleisten. Das SE 400 Ellipsometer liefert sehr präzise optische Daten mit einem ausgeklügelten optischen und Probenpositionierungssystem, das eine automatisierte, genaue, wiederholbare und zuverlässige Messung erzeugt. Das Instrument kann sowohl die absoluten als auch die relativen Eigenschaften der Probe messen und für eine Vielzahl von Anwendungen verwendet werden, wie die Bestimmung der Filmdicke, Brechungsindizes, Extinktionskoeffizienten, optische Konstanten und Anisotropie. Das Instrument ist einfach einzurichten, zu bedienen und zu warten. Es verfügt über eine einfache grafische Benutzeroberfläche auf einem farbigen LCD-Display, das vom Bediener wählbare Parameter und Ausgänge wie Filmdicke, Brechungsindex und optische Konstanten anzeigt. Die Ausgänge können einfach angezeigt und gedruckt werden. SE400 Ellipsometer ist ein zuverlässiges, langlebiges und genaues Instrument mit einer umfassenden Palette optischer Parameter, die genau und schnell gemessen werden können. Damit ist sie eine ideale Wahl für Dünnschichtcharakterisierungsanwendungen.