Gebraucht SENTECH SE 400ADV #9202977 zu verkaufen

SENTECH SE 400ADV ist ein fortschrittliches Ellipsometer zur Messung der Eigenschaften von Dünnschichtmaterialien. Das Gerät ist für eine Vielzahl von Anwendungen konzipiert, darunter optische Beschichtungen, Halbleitermaterialien und nanoskalige Schichten. Es kann eine breite Palette von optischen Dicken, Brechungsindizes, Filmspannungen und Schichtmaterialien genau messen. SENTECH SE400ADV bietet eine hohe Genauigkeit, Wiederholbarkeit und Messgeschwindigkeit mit einem erweiterten Bereich von unter 0,1 nm bis zu mehreren Mikrometern in optischer Dicke. Das System verfügt über einen klicklosen Rotator, der eine kontinuierliche Winkelmessung und Winkeleinstellungen bis zu 0,3 Arcsec-Schritten ermöglicht. Das polarisierende Mikroskop ist für hochauflösende Bilder optimiert, wodurch dünne Filme schnell charakterisiert werden können. SE 400ADV Gerät kommt mit einem leistungsfähigen Windows-Softwarepaket. Die GUI ermöglicht eine einfache Manipulation von Parametern und Datenanalysen. Die benutzerfreundliche Oberfläche ermöglicht eine schnelle und effiziente Einrichtung und erweiterte Datenanalyse. Es ermöglicht auch die Archivierung und Wiederherstellung von Daten, die zum Vergleich von Filmparametern zu unterschiedlichen Zeitperioden verwendet werden können. SE400ADV kommt mit einer automatisierten Ausrichtmaschine, die zuverlässige und genaue Messungen gewährleistet. Das automatisierte Werkzeug erfordert keine manuelle Anpassung und gewährleistet eine gleichbleibende Leistung zwischen mehreren Messungen. Darüber hinaus kann das Gut Proben mit unregelmäßigen Oberflächen, wie strukturierte Folien, messen. SENTECH SE 400ADV verfügt über einen integrierten Quadranten-Detektor, der eine gleichzeitige Analyse mehrerer Proben ermöglicht. Die Echtzeit-Sammlung von Daten ermöglicht einen hohen Durchsatz und die grafische Anzeige der Ergebnisse ermöglicht einen schnellen und einfachen Vergleich von Beispielparameterverteilungen. Darüber hinaus kann das Instrument mit mehreren Strahlplattformen ausgestattet werden, einschließlich linker und rechter kreisförmiger Polarisatoren, IR-Fasern und einem Laser, der im sichtbaren und nahen Infrarotbereich verfügbar ist. SENTECH SE400ADV bietet eine fortschrittliche, hochpräzise und leistungsstarke Plattform zur Dünnschichtcharakterisierung. Mit seiner benutzerfreundlichen Oberfläche und automatisierten Ausrichtung ist das Instrument ein zuverlässiges Werkzeug für Forschungs- und Qualitätssicherungsanwendungen. Mit dem Modell können Forscher schnell und präzise Einblicke in Dünnschichteigenschaften gewinnen und so Genauigkeit und Wiederholbarkeit der Messungen gewährleisten.