Gebraucht SENTECH SE 400ADV #9258061 zu verkaufen

SENTECH SE 400ADV ist ein hochpräzises spektroskopisches Ellipsometer zur Analyse von dünnen Schichten und Oberflächen. Es ist das ideale Werkzeug für Forschung und Entwicklung in der Halbleiter-, Optoelektronik-, Automobil- und Oberflächenwissenschaft. SENTECH SE400ADV ist auf Genauigkeit ausgelegt, mit ausgezeichneter Reproduzierbarkeit und einer Umgebungswiederholbarkeit von 0,15 Grad in ellipsometrischer Ψ/ Δ. Eine hochleistungsfähige, ultrastabile Laserbeleuchtungsquelle und Detektorkonstruktion sorgen für Konsistenz und Integrität bei Messungen. SE 400ADV bietet automatische Kalibrierfunktionen und automatische Prozesskorrektur sowie Flexibilität von 22 Wellenlängeneinstellungen von 190nm bis 1150nm, um Messungen von optischen Konstanten und Nicht-Lambert-Parametern zu ermöglichen. Sein Hochgeschwindigkeitsfleck ellipsometer berücksichtigt schnell zeitabhängige Maße, und seine patentierten innovativen Lösungen, wie der Automatische Beispielpositioner, machen das ein leistungsstarkes Forschungswerkzeug. SE400ADV kommt Standard mit 6-zölligem Beispielchuck, 0.2µm Schrittgenauigkeit am Beispielniveau und eine Kohlendioxydlasermikroskopieverhaftung bietend, dem Benutzer erlaubend, Mikrostrukturen mit dem topografischen, dem Reflexionsvermögen und den Rauheitsmaßen mit der wahren nanometrischen Entschlossenheit zu studieren. Ein optionaler Polarisationsmodulator ermöglicht die Bestimmung von Doppelbrechung und optischer Rotation von Folien oder Materialien, wodurch der Anwendungsbereich und die Möglichkeiten erweitert werden. SENTECH SE 400ADV verfügt über eine intuitive und benutzerfreundliche Bedienung mit Windows oder Linux-Software, wodurch die Benutzererfahrung mit einer Vielzahl von praktischen und nützlichen Funktionen maximiert wird. Dazu gehören eine vollwertige Punkt-und-Klick-grafische Benutzeroberfläche, eine Auswahl an Kurvenformstückfunktionen und die Möglichkeit, Messdaten in den gängigsten Dateiformaten zu exportieren. SENTECH SE400ADV ist die perfekte Lösung für Anwendungen, die genaueste Ergebnisse erfordern, wie Messung optischer Konstanten, Nicht-Lambert-Parameter, Schichtdicke, Schichtbrechungsindex, Polarisationsmessungen und Echtzeitmessungen. Ob für Forschung und Entwicklung oder industrielles Prozessmonitoring, SE 400ADV geht über Standard-Ellipsometer-Methoden hinaus und ist führend in der Filmanalyse.