Gebraucht SENTECH SE 400ADV #9286513 zu verkaufen

SENTECH SE 400ADV Ellipsometer ist ein vielseitiges und präzises optisches Messgerät, das Dünnschichtoberflächen aus dem sichtbaren Bereich in das Nahinfrarot (NIR) analysiert. Das System wurde entwickelt, um extrem dünne Beschichtungen sowie transparente Materialien mit Anwendung in der Entwicklung von Halbleiterbauelementen und anderen optoelektrischen, optischen und optischen Beschichtungsmessungen zu detektieren. SENTECH misst SE400ADV den Polarisationszustand von reflektiertem Licht, um die optischen Eigenschaften von Filmen auf Oberflächen genau zu bestimmen. Das Gerät bietet eine automatische und manuelle Ausrichtung mit hoher Präzision und Wiederholbarkeit. Es verfügt auch über einen großen Datenerfassungsspeicher und eine hohe Datenerfassungsrate, die erweiterte Messungen und eine Datenerfassung mit hohem Durchsatz ermöglicht. SE 400ADV Ellipsometer ist in der Lage, quantitative und qualitative Informationen über Filmschichten auf dem Substrat bereitzustellen. Darüber hinaus bietet die Maschine eine breite Palette von Analysefähigkeiten, einschließlich Zusammensetzung, Abscheideraten, Topographie, Konformität und Dicke. Die Verwendung einer Helmholtz-Spule kann verwendet werden, um das Hintergrundrauschen zu reduzieren und höhere Präzisionsergebnisse zu erzielen. SE400ADV verfügt über eine vollautomatische Softwareschnittstelle, die eine einfache und schnelle Einrichtung und Datenerfassung ermöglicht. Der Anwender kann die Messparameter und die Datenerfassungsparameter definieren. Die intuitive grafische Oberfläche ermöglicht schnelles Experimentdesign und Datenhandling. Darüber hinaus generiert die Software automatisch Berechnungen der gesammelten Daten, die eine schnelle und einfache Analyse ermöglichen. Die SENTECH SE 400ADV bietet auch ein fortschrittliches Analysetool, mit dem Anwender über die quantitativen Ergebnisse hinausgehen können. Das Asset ermöglicht eine detaillierte Visualisierung der gemessenen Filmschichten, einschließlich Orbital- und Energieregualisierungsdiagrammen. Darüber hinaus kann das Analysemodell erweiterte Oberflächeneigenschaften wie Zusammensetzung, Grenzflächenrauhigkeit, optische Konstanten und vieles mehr erzeugen. SENTECH SE400ADV Ellipsometer ist ein einfach zu bedienendes, vielseitiges und präzises optisches Messgerät zur Analyse von Dünnschichtoberflächen. Es ist ideal für die Entwicklung von Halbleiterbauelementen und andere optoelektrische, optische und optische Beschichtungsmessungen aufgrund seiner hohen Datenerfassungsrate und seiner breiten Palette von Analysefähigkeiten. Mit der automatisierten Softwareschnittstelle und dem fortschrittlichen Analysesystem ermöglicht SE 400ADV den Anwendern, alle Materialeigenschaften, die für eine erfolgreiche Analyse erforderlich sind, schnell und präzise zu erfassen.