Gebraucht SENTECH SE 400ADV #9316098 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9316098
Ellipsometer
Extending the limits of the laser ellipsometer:
Multi-angle manual goniometer
Angle accuracy allow measuring the refractive index
Extinction coefficient
Film thickness of single-layer
Laminated films
High-speed measurement:
Monitor the growth
Endpoint detection of single-layer films
Automatic scanning of sample uniformity
Ultra-thin single-layer films
Small desktop composed of ellipsometer optics
Goniometer
Sample stage
Automatic collimating lens
Helium-neon laser light source
Detection unit
Accuracy: 0.1Å
Manual goniometer
Sample stage
Automatic collimating lens
Helium Neon laser light source
Detector
Options:
Microelectronics
Photovoltaic
Data storage
Life sciences
Metal processor.
SENTECH SE 400ADV ist ein Ellipsometer, das die zerstörungsfreie, präzise und genaue Messung der Dünnschichtoptik auf verschiedenen Substraten ermöglicht. Dieses Ellipsometer ist ein vielseitiges Instrument, das eine Sammlung von leistungsstarken Eigenschaften bietet und sowohl die Reflexions- als auch die Transmissionsschichtdicke dielektrischer Filme auf metallischen Substraten in extrem kurzer Zeit messen kann. SENTECH SE400ADV ist mit einer zirkularen Polarisationslichtquelle und einem Objektiv konzipiert, das ein nicht-bildgebendes, koaxiales und gerichtetes Beleuchtungssystem bildet. Dies ermöglicht eine zerstörungsfreie Analyse, wodurch die gemessene Probe intakt bleibt. Die Punktgröße von SE 400ADV ist einstellbar, mit einem Probenstrahlmaß von 2 Millimeter. Die Objektivlinse sammelt das reflektierte und gebrochene Licht und fokussiert den Strahl auf das Präzisionsspektrofotometer. SE400ADV Analyse enthält drei verschiedene Messkonfigurationen mit jeweils eigenen Fähigkeiten. Die Bestimmung der optischen Konstanten für eine Probe, wie Brechungsindex und Absorption, kann durch Erfassung parametrisierter Daten erreicht werden. Das Ellipsometer kann auch zur Bestimmung der Dicke von Dünnschichtschichten mit der Doppelwellenlängenanordnung verwendet werden. Diese drei Konfigurationen werden in einem einzigen automatischen Scan aufgezeichnet und können die Ergebnisse über die SENTECH-Software quantifizieren. SENTECH SE 400ADV Setup wird auch mit einer eingebauten Rauheitsanzeige geliefert. Dies ermöglicht eine Analyse der Oberflächenrauhigkeit eines Substrats. Das Instrument ist auch mit einer erweiterten automatischen Wellenlängenauswahl ausgestattet. Diese Funktion ermöglicht eine schnellere Analyse durch Verwendung der richtigen Wellenlängen für ein bestimmtes Substrat. Das Instrument selbst weist eine sehr geringe Umlaufdrift auf, die durch Verwendung einer geräuscharmen Lichtquelle und aktiver thermoelektrischer Kühlung bedingt ist. Die integrierte Computeroberfläche verfügt über ein 7-Zoll-Display, das einfach zu navigieren ist. Darüber hinaus ermöglicht die Schnittstelle schnelle und einfache Software-Upgrades und Updates. Das Instrument wird auch mit einer Reihe von vordefinierten Anwendungsprogrammen geliefert, die eine schnelle und genaue Datenerfassung und -analyse ermöglichen. SENTECH SE400ADV ist ein präzises und leistungsstarkes Werkzeug zur Charakterisierung dünner Filme. Seine zahlreichen Eigenschaften ermöglichen eine schnellere und einfache Messung von Dünnschichtoptiken. Das Gerät umfasst vordefinierte Anwendungsprogramme und eine integrierte Computerschnittstelle, was es zu einer guten Wahl für Profis macht, die Dünnschicht-optische Eigenschaften rechtzeitig und präzise messen müssen.
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